[实用新型]一种测试分选装置

权利要求书

1.一种测试分选装置，其特征在于：包括依次排列且均具有输送机构的待测流道、测试流道、良品流道、不良品流道，待测流道前端设有待测满料托盘载仓，后端设有空盘卸载仓；良品流道前端设有良品满料托盘卸载仓，后端设有空盘装载仓；测试流道的输送机构上设有下测试座，下测试座上具有数个芯片测试凹槽，测试流道后端设有相匹配的下压测试机构；不良品流道的输送机构上设有存放不良品的托盘；各流道上方还横跨有一横梁，横梁前后两侧分设有一能够沿横梁移动的芯片吸取机构。

2.根据权利要求1所述的一种测试分选装置，其特征在于：所述芯片吸取机构包括数个固定在安装板上的吸取头、独立升降机构、整体升降机构，吸取头的间距与芯片测试凹槽的间距相同，每个吸取头均具有一独立升降机构，整体升降机构与安装板相连。

3.根据权利要求2所述的一种测试分选装置，其特征在于：所述独立升降机构为分设于各吸取头上端并固定于安装板上的气缸。

4.根据权利要求2所述的一种测试分选装置，其特征在于：所述整体升降机构包括升降电机、传动机构、丝杠组件、导向杆组件，传动机构包括分设于升降电机轴和丝杠上端的一对皮带轮，丝杠组件的滑块与导向组件的滑块之间通过连接块相连并通过连接块与安装板相连。

5.根据权利要求1所述的一种测试分选装置，其特征在于：所述横梁两侧上还分别布设有与芯片吸取机构相对应的横移机构。

6.根据权利要求5所述的一种测试分选装置，其特征在于：所述横移机构采用线性模组，且横梁前侧的横移机构跨设于待测流道与测试流道上，横梁后侧的横移机构跨设于良品流道与不良品流道上。

7.根据权利要求1所述的一种测试分选装置，其特征在于：所述下测试座内部设有数个加热棒及温度感应器。

8.根据权利要求1所述的一种测试分选装置，其特征在于：还包括芯片视觉检查装置，设于测试流道与良品流道之间且位于后侧的芯片吸取机构的移动路径下方。

9.根据权利要求1所述的一种测试分选装置，其特征在于：所述待测流道与良品流道内的输送机构均包括轨道、设于轨道内的飞梭机构，飞梭机构包括梭车及驱动梭车往返的线性模组。

10.根据权利要求1所述的一种测试分选装置，其特征在于：所述测试流道内的输送机构采用线性模组，所述不良品流道内的输送机构包括线性模组及设于线性模组两侧的辅助滑轨。