[实用新型]一种电极坯料加工位置偏移量检测机构及加工装置有效

专利信息
申请号: 202021704201.7 申请日: 2020-08-14
公开(公告)号: CN212705770U 公开(公告)日: 2021-03-16
发明(设计)人: 吴文学;于浪;周海宇;程龙 申请(专利权)人: 浙江广合智能科技有限公司
主分类号: B23Q17/00 分类号: B23Q17/00
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 代理人: 杨小雷
地址: 325608 浙江省温州市乐清市虹桥*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 电极 坯料 加工 位置 偏移 检测 机构 装置
【权利要求书】:

1.一种电极坯料加工位置偏移量检测机构,其特征在于,包括:

工作台;

卡盘,设置于所述工作台上,适于放置装夹于夹具上的电极坯料;

位移测距部件,设置在所述工作台上,适于采集所述电极坯料的加工位置的空间坐标位置数据;

射频感应探头,设置在所述工作台上,适于读取和存储所述电极坯料的物料信息数据;

控制器,与所述位移测距部件和所述射频感应探头之间电连接,适于接收所述坐标位置数据和所述物料信息数据并将所述坐标位置数据和所述物料信息数据进行捆绑上传至自动化管理系统;

所述自动化管理系统适于计算出所述电极坯料的加工位置相对于基准在空间坐标系上的偏移量。

2.根据权利要求1所述的一种电极坯料加工位置偏移量检测机构,其特征在于,所述基准为所述夹具的中心且所述夹具的中心在所述工作台上的投影与所述卡盘的轴心线在所述工作台上的投影重合。

3.根据权利要求1或2所述的一种电极坯料加工位置偏移量检测机构,其特征在于,所述位移测距部件包括适于分别测量所述电极坯料的X向位置的X向位移测距部件、测量Y向位置的Y向位移测距部件和测量Z向位置的Z向位移测距部件;

所述X向位移测距部件、Y向位移测距部件均包括两个且均以所述卡盘的轴心线在所述工作台上的投影对称布置在所述工作台上,所述Z向位移测距部件在所述工作台上的投影的中心与所述卡盘的轴心线在所述工作台上的投影重合。

4.根据权利要求3所述的一种电极坯料加工位置偏移量检测机构,其特征在于,所述X向位移测距部件、Y向位移测距部件和Z向位移测距部件均包括安装在所述工作台上的支架和固设于所述支架的安装面上的激光位移测距传感器。

5.根据权利要求4所述的一种电极坯料加工位置偏移量检测机构,其特征在于,所述安装面所在的水平面与所述卡盘的卡接面所在的水平面不共面;或

所述安装面所在的水平面不低于所述卡盘的卡接面所在的水平面。

6.根据权利要求4或5所述的一种电极坯料加工位置偏移量检测机构,其特征在于,所述X向位移测距部件和Y向位移测距部件的支架均沿Z向延伸固定在所述工作台上;

所述Z向位移测距部件的支架包括沿Z向延伸固定在所述工作台上的第一支架和沿X向延伸固定在所述第一支架上的第二支架,其中一个所述X向位移测距部件贴靠在所述第一支架面向所述卡盘的端面上,所述Z向位移测距部件的激光位移测距传感器安装在所述第二支架远离所述第一支架的端部上且在所述工作台上的投影落在所述卡盘在所述工作台上的投影。

7.根据权利要求6所述的一种电极坯料加工位置偏移量检测机构,其特征在于,所述X向位移测距部件、Y向位移测距部件的支架和所述第二支架均包括与所述工作台或所述第一支架连接的支架座和设置于所述支架座朝向远离所述工作台或所述第一支架方向延伸的支架片;

所述支架座远离所述工作台或所述第一支架的端面为所述安装面,所述支架片适于设置于所述安装面的一侧并与所述安装面形成一个L字型的安装空间,各自对应的所述激光位移测距传感器适于对应安装在所述安装空间内。

8.根据权利要求3所述的一种电极坯料加工位置偏移量检测机构,其特征在于,所述射频感应探头为RFID芯片信息读取探头,设于其中一个所述X向位移测距部件和所述卡盘之间且三者之间的连线共线,所述射频感应探头上开设有一个处于该X向位移测距部件发射和接收所述电极坯料的光线的路径上的避让通孔。

9.根据权利要求1或2所述的一种电极坯料加工位置偏移量检测机构,其特征在于,所述工作台包括基板和固定支撑在所述基板底端的支撑架,所述基板为方形基板;

所述卡盘包括固设于所述工作台上的筒状卡座和设置于所述筒状卡座顶端的适于卡接固定所述夹具的方形卡板;

所述方形卡板的中心、所述筒状卡座的轴心线及所述基板的中心在同一竖直线上。

10.一种加工装置,其特征在于,包括加工机构、自动化管理系统和权利要求1-9任一项所述的电极坯料加工位置偏移量检测机构,所述加工机构适于与所述自动化管理系统电连接并受所述自动化管理系统控制进行加工操作。

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