[实用新型]一种半导体封装外体结构有效
申请号: | 202021732477.6 | 申请日: | 2020-08-19 |
公开(公告)号: | CN212412017U | 公开(公告)日: | 2021-01-26 |
发明(设计)人: | 李锋 | 申请(专利权)人: | 瑞容光电科技(江苏)有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 盐城平易安通知识产权代理事务所(普通合伙) 32448 | 代理人: | 汪磊 |
地址: | 212400 江苏省镇*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体 封装 结构 | ||
本实用新型涉及支架领域,且公开了一种半导体封装外体结构,包括结构主体,所述结构主体的上端外表面设置有控制箱,所述结构主体的上端外表面设置有防护罩,所述防护罩的外表面设置有通孔,所述防护罩的上端外表面设置有安装板,所述安装板的外表面设置有安装孔,所述安装孔的内侧设置有安装螺栓,所述结构主体的外表面靠近防护罩的一侧设置有导向装置。该半导体封装外体结构,在结构主体使用过程中,通过设置有防护罩,防止结构主体工作时内部的加热块对使用者造成不必要的烫伤,通过设置有导向装置,有利于结构主体在封装过程中,封装带的移动,便于使用,通过设置有裁带轮与裁钉,便于封装带的裁剪封装,提高工作效率。
技术领域
本实用新型涉及封装外体结构技术领域,具体为一种半导体封装外体结构。
背景技术
随着科学技术的发展,半导体的应用也越来越多,半导体出厂前需要进行封装,在半导体封装厂被广泛的应用。
现有的半导体封装外体结构在使用时存在一定的弊端,首先,结构主体使用过程中,加热块裸露在外,具备一定的危险性,不便于使用,其次,在结构主体使用过程中,封装带在移动过程中不可活动调节,降低工作效率,最后,裁带轮的裁剪效果不佳,不便于提供其他额外动力,为此我们提出一种半导体封装外体结构。
实用新型内容
(一)解决的技术问题
针对现有技术的不足,本实用新型提供了一种半导体封装外体结构,通过设置有防护罩,防止结构主体工作时内部的加热块对使用者造成不必要的烫伤,通过设置有导向装置,有利于结构主体在封装过程中,封装带的移动,提高工作效率,便于使用,通过设置有裁带轮与裁钉,便于封装带的裁剪封装的问题。
(二)技术方案
为实现上述具备防护罩,防止结构主体工作时内部的加热块对使用者造成不必要的烫伤,导向装置,有利于结构主体在封装过程中,封装带的移动,裁带轮与裁钉,便于封装带的裁剪封装,本实用新型提供如下技术方案:一种半导体封装外体结构,包括结构主体,所述结构主体的上端外表面设置有控制箱,所述结构主体的上端外表面设置有防护罩,所述防护罩的外表面设置有通孔,所述防护罩的上端外表面设置有安装板,所述安装板的外表面设置有安装孔,所述安装孔的内侧设置有安装螺栓,所述结构主体的外表面靠近防护罩的一侧设置有导向装置,所述导向装置的一侧设置有导向轴,所述导向装置的一端设置有导轮固定板,所述导轮固定板外表面设置有小型导轮,所述结构主体的内部设置有裁带轮,所述裁带轮的一侧设置有辅助固定轮,所述辅助固定轮的内部设置有转动轴,所述转动轴的一侧设置有电动机。
优选的,所述控制箱的上端外表面固定连接有触摸显示屏,且触摸显示屏为矩形结构,所述结构主体的前外表面靠近控制箱的一侧转动连接有封装带挡轮,且封装带挡轮为圆形结构并为非金属材料制成,所述结构主体的前端外表面活动连接有挂轮,且挂轮数量为若干组并呈矩形排布,所述结构主体的下端外表面活动连接有支撑调节板,且支撑调节板为扁平状结构并为不锈钢材料制成,所述支撑调节板的横截面积大于结构主体的横截面积。
优选的,所述结构主体与防护罩之间为固定连接,且防护罩为镂空结构,所述防护罩的外表面贯穿有通孔,且通孔数量为若干组并呈阵列排布,所述通孔与安装板之间为固定连接,且通孔为扁平状结构,所述通孔的外表面贯穿有安装孔,且安装孔数量为两组并呈对称排布,所述安装孔的内部刻有螺纹,所述安装孔与安装螺栓数量相同并为螺纹连接。
优选的,所述导向装置与结构主体之间活动连接,且导向装置为不锈钢材料制成,所述导向轴贯穿于导向装置与导轮固定板的内部,且导向轴为圆柱结构,所述导向轴的一端外表面固定连接有调整手轮,且调整手轮为中空圆柱结构,所述调整手轮外表面嵌有磨砂层,且磨砂层表面积小于调整手轮的表面积。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造