[实用新型]一种测量键合丝银离子迁移的制具有效
申请号: | 202021749309.8 | 申请日: | 2020-08-20 |
公开(公告)号: | CN212808372U | 公开(公告)日: | 2021-03-26 |
发明(设计)人: | 曹昆明;赵中原;徐锦旭 | 申请(专利权)人: | 合肥矽格玛应用材料有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R31/00 |
代理公司: | 安徽申策知识产权代理事务所(普通合伙) 34178 | 代理人: | 梁维尼 |
地址: | 230000 安徽省合肥市高新区*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测量 键合丝 银离子 迁移 | ||
1.一种测量键合丝银离子迁移的制具,包括底板(1),其特征在于:所述底板(1)上端面设有夹持件(2),所述底板(1)上端面固定连接有固定件(2a),所述底板(1)上端面滑动连接有滑动件(2b),所述夹持件(2)包括底座(21)和固定连接在所述底座(21)上端面的支撑杆(22),所述支撑杆(22)上端面固定连接有固定板(23),所述固定板(23)上端面中间位置开设有线槽(24),所述夹持件(2)上端面铰接有压板(25),所述压板(25)位于所述线槽(24)上方,所述压板(25)上设有导电件(4);
所述底板(1)上端面滑动连接有检测板(3),所述检测板(3)上端面固定连接有伸缩杆(31),所述伸缩杆(31)上端面固定连接有安装板(32),所述检测板(3)位于所述固定件(2a)与所述滑动件(2b)之间。
2.根据权利要求1所述的一种测量键合丝银离子迁移的制具,其特征在于:所述底板(1)上端面开设有控制滑槽(11),所述控制滑槽(11)内部转动连接有螺杆(12),所述滑动件(2b)的所述底座(21)底面固定连接有与所述螺杆(12)相配合的滑块(26)。
3.根据权利要求2所述的一种测量键合丝银离子迁移的制具,其特征在于:所述底板(1)远离所述固定件(2a)一侧转动连接有控制把手(13),所述控制把手(13)与所述螺杆(12)一端固定连接。
4.根据权利要求1所述的一种测量键合丝银离子迁移的制具,其特征在于:所述底板(1)上端面开设有移动滑槽(14),所述底板(1)一侧开设有与所述移动滑槽(14)相连通的操作滑槽(15),所述检测板(3)滑动连接在所述移动滑槽(14)的上方,所述检测板(3)底部固定连接有滑杆(33)。
5.根据权利要求4所述的一种测量键合丝银离子迁移的制具,其特征在于:所述滑杆(33)的形状呈L形,所述滑杆(33)位于所述移动滑槽(14)、所述操作滑槽(15)内部,所述滑杆(33)一端延伸至所述底板(1)外部。
6.根据权利要求1所述的一种测量键合丝银离子迁移的制具,其特征在于:所述导电件(4)包括位于所述导电件(4)上方的导电柱(41)和位于所述压板(25)底面的导电块(42),所述导电块(42)底面具有弧形面(43)。
7.根据权利要求1所述的一种测量键合丝银离子迁移的制具,其特征在于:所述伸缩杆(31)包括固定连接在所述检测板(3)上端面的固定杆(311)和滑动连接在所述固定杆(311)顶端的滑动杆(312),所述固定杆(311)内部设有阻尼层(313)。
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