[实用新型]一种集成电路测试装置有效
申请号: | 202021780280.X | 申请日: | 2020-08-24 |
公开(公告)号: | CN212932705U | 公开(公告)日: | 2021-04-09 |
发明(设计)人: | 杨光 | 申请(专利权)人: | 深圳市博盛盈科供应链有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R1/073;G01R31/28 |
代理公司: | 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 | 代理人: | 饶富春 |
地址: | 518000 广东省深圳市福*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 集成电路 测试 装置 | ||
1.一种集成电路测试装置,包括底座(1),其特征在于:所述底座(1)的顶部固定安装有固定座(2)和竖板(3),竖板(3)的顶部固定安装有横板(4),横板(4)的顶部固定安装有第一电动推杆(5)和电仪表(6),第一电动推杆(5)的输出端固定安装有第一伸缩杆(7),横板(4)的顶部开设有圆孔,第一伸缩杆(7)的底端贯穿圆孔并固定安装有安装板(8),安装板(8)的底部设有电机(9),电机(9)的输出轴端固定安装有探针连接板(10),探针连接板(10)的底部固定安装有三个测试探针(11),固定座(2)的顶部开设有滑槽(12),滑槽(12)的一侧内壁上固定安装有第二电动推杆(13),第二电动推杆(13)的输出端固定安装有第二伸缩杆(14),滑槽(12)内滑动安装有滑座(15),第二伸缩杆(14)远离第二电动推杆(13)的一端与滑座(15)的一侧固定连接,滑座(15)的顶部延伸至滑槽(12)外并固定安装有电路测试座(16),电路测试座(16)位于测试探针(11)的正下方,电路测试座(16)的顶部开设有两个放置槽(17),两个放置槽(17)相互远离的一侧内壁上均开设有螺纹孔(18),两个螺纹孔(18)内均螺纹安装有丝杆(19),丝杆(19)的两端均延伸至螺纹孔(18)外,两个放置槽(17)内均设有橡胶板(20),两个橡胶板(20)相互远离的一侧均固定安装有轴承座(21),两个丝杆(19)相互靠近的一端分别转动安装在相对应的轴承座(21)上。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置,其特征在于:所述滑槽(12)内固定安装有位于第二电动推杆(13)上方的导向杆(22),滑座(15)滑动套设在导向杆(22)上。
3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置,其特征在于:所述安装板(8)的底部固定安装有机架,电机(9)固定安装在机架上。
4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置,其特征在于:所述滑座(15)的底部嵌套有滚珠,滚珠与滑槽(12)的底部内壁滚动接触。
5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置,其特征在于:两个放置槽(17)的底部内壁上均开设有限位槽,两个橡胶板(20)的底部均固定安装有限位杆,两个限位杆分别滑动安装在相对应的限位槽内。
6.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置,其特征在于:两个丝杆(19)相互远离的一端均固定安装有手柄。
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