[实用新型]一种集成电路测试装置

说明书

本实用新型公开了一种集成电路测试装置，包括底座，所述底座的顶部固定安装有固定座和竖板，竖板的顶部固定安装有横板，横板的顶部固定安装有第一电动推杆和电仪表，第一电动推杆的输出端固定安装有第一伸缩杆，横板的顶部开设有圆孔，第一伸缩杆的底端贯穿圆孔并固定安装有安装板。本实用新型设计合理，实用性好，便于对不同尺寸的集成电路进行稳固夹持，避免对集成电路测试过程中造成集成电路发生偏移而导致测试结果不准确，并且便于对测试探针的高度位置和水平位置进行调节，不需人工手动调节，给检测工作带来便捷性，而且能够实现了对多个集成电路进行连续性测试工作，合理利用工作时间，大大的提高了工作效率。

技术领域

本实用新型涉及集成电路测试技术领域，具体为一种集成电路测试装置。

背景技术

集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步，当今，半导体工业大多数应用的是基于硅的集成电路，在进行集成电路生产过程中，需要使用侧视设备对集成电路进行性能检测，以判断集成电路是否合格。

经检索，授权公告号为CN207965052U公开了一种集成电路测试装置，包括底座、电路测试座、测试探针、探针连接板、旋转杆头、连接杆、锁扣、支撑杆、手柄、前顶板、电仪表，测试探针通过螺丝与探针连接板贯穿连接并且水平设有三个，旋转杆头垂直安装于探针连接板上端并且与连接杆相连接，锁扣设有两个并且下端通过螺丝贯穿于连接杆顶部，锁扣上端通过螺丝与支撑杆相连接，该集成电路测试装置，在结构上设置了测试探针，并且通过装置中的测试电偶对电路进行测试，然后膨胀空间加强了装置内侧软硬程度，以及通过机体进行减小硬度，从而减小装置在使用时对电路的冲击而导致损坏，从而加强了装置的实用性，但是，现有技术中，该集成电路测试设备在使用时，不便于对不同尺寸的集成电路进行稳固固定在电路测试座上，在对集成电路测试过程中容易造成集成电路发生偏移而导致测试结果不准确，并且需要手动调节测试探针的高度位置和水平位置，给测试工作带来不便，而且不能够实现对多个集成电路进行连续性测试工作，工作时间不能够合理利用，时间浪费较多，导致工作效率低，为此，我们提出一种集成电路测试装置用于解决上述问题。

实用新型内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种集成电路测试装置，解决了现有的集成电路测试设备不便于对不同尺寸的集成电路进行稳固固定在电路测试座上，在对集成电路测试过程中容易造成集成电路发生偏移而导致测试结果不准确，并且需要手动调节测试探针的高度位置和水平位置，给测试工作带来不便，而且不能够实现对多个集成电路进行连续性测试工作，工作时间不能够合理利用，时间浪费较多，导致工作效率低的问题。

(二)技术方案

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种集成电路测试装置，包括底座，所述底座的顶部固定安装有固定座和竖板，竖板的顶部固定安装有横板，横板的顶部固定安装有第一电动推杆和电仪表，第一电动推杆的输出端固定安装有第一伸缩杆，横板的顶部开设有圆孔，第一伸缩杆的底端贯穿圆孔并固定安装有安装板，安装板的底部设有电机，电机的输出轴端固定安装有探针连接板，探针连接板的底部固定安装有三个测试探针，固定座的顶部开设有滑槽，滑槽的一侧内壁上固定安装有第二电动推杆，第二电动推杆的输出端固定安装有第二伸缩杆，滑槽内滑动安装有滑座，第二伸缩杆远离第二电动推杆的一端与滑座的一侧固定连接，滑座的顶部延伸至滑槽外并固定安装有电路测试座，电路测试座位于测试探针的正下方，电路测试座的顶部开设有两个放置槽，两个放置槽相互远离的一侧内壁上均开设有螺纹孔，两个螺纹孔内均螺纹安装有丝杆，丝杆的两端均延伸至螺纹孔外，两个放置槽内均设有橡胶板，两个橡胶板相互远离的一侧均固定安装有轴承座，两个丝杆相互靠近的一端分别转动安装在相对应的轴承座上。