[实用新型]一种可适应于智能开关控制芯片测试和成品测试系统有效
申请号: | 202021884583.6 | 申请日: | 2021-05-11 |
公开(公告)号: | CN213633700U | 公开(公告)日: | 2021-07-06 |
发明(设计)人: | 孙志年;王拓;姜占东 | 申请(专利权)人: | 无锡军工智能电气股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 无锡市朗高知识产权代理有限公司 32262 | 代理人: | 赵华 |
地址: | 214000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 适应 智能 开关 控制 芯片 测试 成品 系统 | ||
【权利要求书】:
1.一种可适应于智能开关控制芯片测试和成品测试系统,其特征在于,包括:
电源单元:为测试机提供+5V、+12V、±15V、±24V、±55V的电源,电源开启时短时交流电流会达到25-30A,桥架上开关容量至少40A;
测试站:用于测试机提供给用户的测试总线接口;
测试终端接口,提供了TTL和GPIB两种测试终端接口;
GPIB接口:用于测试系统校准校验、与探针台或分选机联机自动测试、控制专用仪器测试。
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