[实用新型]一种可适应于智能开关控制芯片测试和成品测试系统

说明书

一种可适应于智能开关控制芯片测试和成品测试系统是以量产测试数字类智能开关控制芯片产品为目标的高性能集成电路测试机，可适应于智能开关控制芯片测试和成品测试，主要可测试运放等线性电路、功放类电路、马达驱动类电路、电源管理类电路、收音机类电路等各类模拟电路和数模类电路。系统由工控机、测试主机、DUT盒、测试终端接口、GPIB接口等几部分构成，测试盒可以放到最靠近测试区的位置，以达到最佳的测试效果，整个测试系统由不同的电源模块和信号模块组成，可以根据用户产品测试的实际需要选择合适的模块和数量，各模块在机架内插入槽位不受限制，插入后软件自动识别并加以控制，开机后可以通过软件查看系统的实际配置情况。

技术领域

本实用新型涉及集成电路测试，特别涉及一种可适应于智能开关控制芯片测试和成品测试系统。

背景技术

智能开关集成电路芯片(integrated circuit chip,IC)的电性测试在半导体制作工艺(semiconductor process)的各阶段中都是相当重要的。每一个智能开关控制芯片都必须接受测试以确保其电性功能(electrical function)。

在集成电路芯片的测试过程中，使用的测试设备主要包括:测试机(AutomaticTest Equipment,ATE)及探针台(prober)。其中，测试机是用于晶圆和其他成品测试的一种专用设备，可以实现各种电性参数的测量，以检测集成电路芯片的电性功能。

实用新型内容

本实用新型的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种可适应于智能开关控制芯片测试和成品测试系统。

本实用新型的的目的可以通过以下技术方案来实现：

一种可适应于智能开关控制芯片测试和成品测试系统，包括：

一电源单元，是经过专门设计的专用电源；

一测试站，是测试机提供给用户的测试总线接口是测试机提供给用户的测试总线接口。

一测试终端接口，提供了TTL和GPIB两种测试终端接口。

一GPIB接口，主要用于测试系统校准校验、与探针台或分选机联机自动测试、控制专用仪器测试等。

进一步的，电源单元为测试机提供+5V、+12V、±15V、±24V、±55V等电源，电源开启时短时交流电流会达到25-30A，因此桥架上开关容量至少40A。

进一步的，测试站在同一个站中，用户可根据被测试产品的所需资源和测试机已配有的硬件资源，选择多个电路并行测试，当然实际的自动并行测试还需要有自动分选机的配合。

进一步的，测试终端接口信号的有效电平选择(高电平有效、低电平有效)和各信号间的时序设置可由测试系统软件任意设置，用户只要合理选择图中的5个时间参数(T1-T5)就能方便地达到你所需。

要的时序要求，设计完成后新命名就可供其他所有的测试程序选用。

进一步的，GPIB接口由插在工控机中的GPIB卡提供，一个接口最多可同时挂接16个设备。

本实用新型的有益效果是，解决了采用常规测试方法时，测试流程复杂，不够准确，时间太长等问题。

附图说明

图1为本实用新型一种可适应于智能开关控制芯片测试和成品测试系统的一种实施例架构图。

图2为本实用新型测试站中DUT盒结构图。

图3、图4为本实用新型中测试终端接口高低电平有效时序图。

图5为本实用新型中的芯片测试步骤流程

具体实施方式

结合附图所示，本实用新型的技术方案作进一步的描述：