[实用新型]一种用于测年仪的垂直握持式测杆有效

专利信息
申请号: 202021893784.2 申请日: 2020-09-03
公开(公告)号: CN213042001U 公开(公告)日: 2021-04-23
发明(设计)人: 王光辉 申请(专利权)人: 王光辉
主分类号: G01T1/167 分类号: G01T1/167
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 471000 河南省洛阳市*** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 测年仪 垂直 握持式测杆
【权利要求书】:

1.一种用于测年仪的垂直握持式测杆,包括左测杆和右侧杆,所述左测杆同右侧杆配合使用;上端盖固定设置在握持手柄本体的上部位置,下端盖固定设置在握持手柄本体的底部位置,其特征在于:所述握持手柄本体为中空的圆柱形;芯轴竖直固定设置在握持手柄本体的中心位置,所述芯轴的底部一体式设置有锥尖,芯轴穿过上端盖的上部中心延伸至芯轴套的上部;条状磁感应体固定设置在所述芯轴的左侧位置;所述芯轴套固定设置在所述握持手柄本体的底部中心位置;芯轴连接部固定设置在芯轴的顶部位置,所述芯轴连接部用于将芯轴和支撑测杆固定连接;锁紧螺母固定设置在所述芯轴连接部的左侧位置,用于将支撑测杆同芯轴连接部锁紧;所述支撑测杆的左端固定设置有热缩胶管,延伸测杆套接在所述热缩胶管的左端;磁性感应体固定设置在支撑测杆或延伸测杆的左侧端部位置。

2.根据权利要求1所述的一种用于测年仪的垂直握持式测杆,其特征在于:芯轴套包括芯轴套本体,凹入锥形固定设置在芯轴套的中心底部位置,芯轴套连接柱固定设置在芯轴套本体的底部中间位置,芯轴套本体的底部与下端盖的中心固定连接。

3.根据权利要求2所述的一种用于测年仪的垂直握持式测杆,其特征在于:芯轴穿过上端盖的上部中心延伸至芯轴套的凹入锥形的中心位置,芯轴底部锥尖与凹入锥形形成点接触结构。

4.根据权利要求1所述的一种用于测年仪的垂直握持式测杆,其特征在于:芯轴连接部的左侧表面设置有外螺纹,用于同锁紧螺母配合将支撑测杆锁紧固定。

5.根据权利要求2所述的一种用于测年仪的垂直握持式测杆,其特征在于:支撑测杆和延伸测杆以芯轴转轴,同时以芯轴的锥尖同凹入锥形为点接触,可自由摆动。

6.根据权利要求1所述的一种用于测年仪的垂直握持式测杆,其特征在于:延伸测杆插入在支撑测杆的热缩胶管中,延伸测杆在热缩胶管内部可伸缩。

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