[实用新型]一种用于测年仪的垂直握持式测杆

说明书

本实用新型属于测年仪的垂直握持式测杆技术领域，本实用新型公开了一种用于测年仪的垂直握持式测杆，所述握持手柄本体为中空的圆柱形；芯轴竖直固定设置在握持手柄本体的中心位置，所述芯轴的底部一体式设置有锥尖；条状磁感应体固定设置在所述芯轴的左侧位置；所述芯轴套固定设置在所述握持手柄本体的底部中心位置；芯轴连接部固定设置在芯轴的顶部位置；锁紧螺母固定设置在所述芯轴连接部的左侧位置；所述支撑测杆的左端固定设置有热缩胶管，延伸测杆套接在所述热缩胶管的左端；磁性感应体固定设置在支撑测杆或延伸测杆的左侧端部位置。本实用新型，大大提高了测杆的摆动灵敏度，从而最终提高了测杆对物体断代的准确性。

技术领域

本实用新型属于测年仪的垂直握持式测杆技术领域，具体涉及一种用于测年仪的垂直握持式测杆。

背景技术

测杆作为测年仪的主要设备部件，现有技术中测杆主要由握持部、铰接部和感应测杆组成，握持部主要用于操作人员的垂直握持，铰接部主要用于固定感应测杆和握持部的固定连接，同时利用铰接部的铰接结构，可以使感应测杆可以左右摆动；操作人员利用测年仪对物体对比断代的过程中，需要两个测杆垂直相互平行配合同时使用。目前测年仪所使用的测杆主要存在的技术问题是：由于铰接结构的测杆摆动过程，接触点接触面积大造成阻尼大，直接导致测杆的摆动灵敏度不高，对物体的断代出现较大的误差；发明人基于现有技术中的缺陷研发了一种用于测年仪的垂直握持式测杆，能够很好地解决现有技术中存在的技术问题。

实用新型内容

本实用新型为了解决上述技术问题，提供一种用于测年仪的垂直握持式测杆，其设计结构简单、科学合理、大大提高了测杆的摆动灵敏度，从而最终提高了测杆对物体断代的准确性；本实用新型通过在握持手柄本体中设置点接触结构，从而大大提高了测杆摆动的灵敏度，解决了由于铰接结构的测杆摆动过程中阻尼大，直接导致测杆的摆动灵敏度不高的问题。

本实用新型解决技术问题所采用的技术方案是：一种用于测年仪的垂直握持式测杆，包括左测杆和右侧杆，所述左测杆同右侧杆配合使用；上端盖固定设置在握持手柄本体的上部位置，下端盖固定设置在握持手柄本体的底部位置，所述握持手柄本体为中空的圆柱形；芯轴竖直固定设置在握持手柄本体的中心位置，所述芯轴的底部一体式设置有锥尖，芯轴穿过上端盖的上部中心延伸至芯轴套的上部；条状磁感应体固定设置在所述芯轴的左侧位置；所述芯轴套固定设置在所述握持手柄本体的底部中心位置；芯轴连接部固定设置在芯轴的顶部位置，所述芯轴连接部用于将芯轴和支撑测杆固定连接；锁紧螺母固定设置在所述芯轴连接部的左侧位置，用于将支撑测杆同芯轴连接部锁紧；所述支撑测杆的左端固定设置有热缩胶管，延伸测杆套接在所述热缩胶管的左端；磁性感应体固定设置在支撑测杆或延伸测杆的左侧端部位置。

所述芯轴套包括芯轴套本体，凹入锥形固定设置在芯轴套的中心底部位置，芯轴套连接柱固定设置在芯轴套本体的底部中间位置，芯轴套本体的底部与下端盖的中心固定连接。

所述芯轴穿过上端盖的上部中心延伸至芯轴套的凹入锥形的中心位置，芯轴底部锥尖与凹入锥形形成点接触结构。

所述芯轴连接部的左侧表面设置有外螺纹，用于同锁紧螺母配合将支撑测杆锁紧固定。

所述支撑测杆和延伸测杆以芯轴转轴，同时以芯轴的锥尖同凹入锥形为点接触，可自由摆动。

所述延伸测杆插入在支撑测杆的热缩胶管中，延伸测杆在热缩胶管内部可伸缩。

本实用新型的有益效果是：本实用新型提供一种用于测年仪的垂直握持式测杆，由于芯轴底部锥尖与芯轴套的凹入锥形形成点接触结构，大大减少了支撑测杆和延伸测杆以芯轴转轴的摆动阻力，从而提高了测杆的摆动灵敏度，从而最终提高了测杆对物体断代的准确性。本发明设计结构简单、科学合理、大大提高了测杆的摆动灵敏度，从而最终提高了测杆对物体断代的准确性。

附图说明

图1为本实用新型的正视图；

图2为本实用新型的侧视图；