[实用新型]一种热式质量流量计探头有效
| 申请号： | 202021990864.X | 申请日： | 2020-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN212482587U | 公开（公告）日： | 2021-02-05 |
| 发明（设计）人： | 常琰境;彭雄飞;托马斯·费舍尔 | 申请（专利权）人： | 希尔思仪表（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01F1/86 | 分类号： | G01F1/86;G01F15/14 |
| 代理公司： | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人： | 刘贻盛 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区西丽留仙洞中山园*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 质量 流量计 探头 | ||
1.一种热式质量流量计探头，其特征在于，所述热式质量流量计探头包括有：
一中空的用于安装所述热式质量流量计探头的外壳，该外壳连接在热式质量流量计的连接轴的末端；
一具有温度检测功能的加热元件，设置于所述外壳的内部下端，其下端面与所述外壳的下端面处于同一平面且与所述连接轴轴向垂直；
一温度检测元件，设置于所述外壳的内部，且与所述加热元件热隔离。
2.如权利要求1所述的热式质量流量计探头，其特征在于，所述温度检测元件设置于所述外壳的内部下端，其下端面与所述外壳的下端面处于同一平面。
3.如权利要求2所述的热式质量流量计探头，其特征在于，所述加热元件与所述温度检测元件之间填充有隔热材料，所述隔热材料的导热系数＜1.0W/m·K。
4.如权利要求1所述的热式质量流量计探头，其特征在于，所述加热元件包括有一第一基板及一贴合于所述第一基板背面处的加热器，所述第一基板的正面构成所述加热元件的下端面。
5.如权利要求1所述的热式质量流量计探头，其特征在于，所述温度检测元件设置于所述外壳内部位于所述加热元件的上方处，且与所述外壳热接触。
6.如权利要求5所述的热式质量流量计探头，其特征在于，所述外壳包括有上壳和连接于上壳下端的下壳，所述温度检测元件设置于所述上壳内部且与所述上壳热接触，所述上壳的导热系数＞1.0W/m·K，所述加热元件设置于所述下壳的内部下端，所述下壳的下端面构成外壳的下端面，所述下壳的导热系数＜1.0W/m·K。
7.如权利要求2所述的热式质量流量计探头，其特征在于，所述温度检测元件包括有一第二基板及一贴合于所述第二基板背面处的温度传感器，所述第二基板的正面构成所述温度检测元件的下端面。
8.如权利要求4所述的热式质量流量计探头，其特征在于，所述加热器为电阻温度传感器。
9.如权利要求8所述的热式质量流量计探头，其特征在于，所述电阻温度传感器为铂电阻。
10.如权利要求7所述的热式质量流量计探头，其特征在于：所述温度传感器为电阻温度传感器或数字温度传感器。
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