[实用新型]一种热式质量流量计探头

说明书

本实用新型公开了一种热式质量流量计探头，其包括一中空的外壳、一具有温度检测功能的加热元件和一温度检测元件；加热元件设置于所述外壳的内部下端，其下端面与所述外壳的下端面处于同一平面且与所述外壳轴向垂直；温度检测元件设置于所述外壳的内部，且与所述加热元件热隔离。与现有技术相比，本实用新型的热式质量流量计探头中的加热元件设置于外壳的内部下端且下端面与热式质量流量计的连接轴轴向垂直，因此，加热元件在受到良好保护的同时，也可以与流体良好热接触，从而提高热式质量流量计探头的测量精度。此外，所述加热元件和温度检测元件热隔离，减小了加热元件对温度检测元件的影响，使得流体温度测量更为精准，因此流量测量更为精准。

技术领域

本实用新型涉及计量设备技术领域，尤其涉及一种热式质量流量计探头。

背景技术

现有的热式流量计都有一个具有温度检测功能的加热元件和一个温度检测元件，温度检测元件用来测量流体的温度T1，加热元件自动加热到高于流体温度的温度T2，现有的热式流量计大体分为两种：

第一种是恒功率热式流量计，其工作原理是：温度检测元件测量流体的温度T1，加热元件自动加热到温度T2，当有流体流过温度检测元件和加热元件时，加热元件的一部分的热量将被流体带走，使加热元件的温度下降，因加热元件的加热功率恒定不变，流体流动速度越快，带走的热量也就越多，加热元件的温度下降越大，从而可以通过流体的流速和加热元件的温度下降值的函数关系测量流体质量流量。

第二种是恒温差热式流量计，其工作原理是：温度检测元件测量流体的温度T1，加热元件自动加热到温度T2，当有流体流过温度检测元件和加热元件时，加热元件的一部分的热量将被流体带走，使加热元件的温度下降，通过自动调整加热元件的加热功率，使温度检测元件与加热元件的温差保持不变，流体流动速度越快，带走的热量也就越多，加热元件的加热功率越大，从而可以通过流体的流速和加热元件的功率增加的函数关系测量流体质量流量。

在测量流体质量流量的过程中，加热元件和温度检测元件被插入到管道中以测量流体流量。为了保护加热元件和温度检测元件在安装和操作过程中不受损坏，在加热元件和温度检测元件周围设置了机械保护装置。然而，增设的机械保护装置对流体动力学有负面影响，会导致跟随流体速度和压力变化而变化的湍流，进而导致的测量不确定性。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种可提高测量精度的热式质量流量计探头。

为解决上述技术问题，本实用新型提供一种热式质量流量计探头，其包括有一中空的外壳、一具有温度检测功能的加热元件和一温度检测元件；所述外壳连接在热式质量流量计的连接轴的末端，用于安装所述热式质量流量计探头；所述加热元件设置于所述外壳的内部下端，其下端面与所述外壳的下端面处于同一平面且与所述连接轴轴向垂直；所述温度检测元件设置于所述外壳的内部，且与所述加热元件热隔离。

其进一步技术方案为：所述温度检测元件设置于所述外壳的内部下端，其下端面与所述外壳的下端面处于同一平面。

其进一步技术方案为：所述加热元件与所述温度检测元件之间填充有隔热材料，所述隔热材料的导热系数＜1.0W/m·K。

其进一步技术方案为：所述加热元件包括有一第一基板及一贴合于所述第一基板背面处的加热器，所述第一基板的正面构成所述加热元件的下端面。

其进一步技术方案为：所述温度检测元件设置于所述外壳内部位于所述加热元件的上方处，且与所述外壳热接触。

其进一步技术方案为：所述外壳包括有上壳和与连接于上壳下端的下壳，所述温度检测元件设置于所述上壳内部且与所述上壳热接触，所述上壳的导热系数＞1.0W/m·K，所述加热元件设置于所述下壳的内部下端，所述下壳的下端面构成外壳的下端面，所述下壳的导热系数＜1.0W/m·K。