[实用新型]一种绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统有效
| 申请号： | 202022087487.5 | 申请日： | 2020-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN213457326U | 公开（公告）日： | 2021-06-15 |
| 发明（设计）人： | 杨平;黄德林;曾艳军;田志飞 | 申请（专利权）人： | 深圳顺络电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/69 | 分类号： | G01R31/69;G01R27/26;G01R27/02 |
| 代理公司： | 深圳市嘉勤知识产权代理有限公司 44651 | 代理人： | 王敏生 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 绝缘 电阻 检测 仪器 接触 不良 测试 系统 | ||
1.一种绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统，其特征在于，包括：
测试座，用于放持待测试产品；
设置在所述测试座上的四个测试端子，四个所述测试端子分别与待测试产品的电极相对应电连接；
与两个所述测试端子电连接的高阻计，用于检测待测试产品的绝缘电阻，所述测试座与所述高阻计组成一闭合回路；
与另两个所述测试端子电连接的电容器，所述电容器与所述测试座组成另一闭合回路，且所述电容器与所述高阻计并联设置。
2.根据权利要求1所述的绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统，其特征在于，
四个所述测试端子分别与高阻计的端口及电容器的两端固定在一起以形成稳定的电连接。
3.根据权利要求1所述的绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统，其特征在于，
所述电容器为固定容值电容器。
4.根据权利要求2所述的绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统，其特征在于，
所述高阻计的电容值检测范围为大于或等于0.5pF；
所述电容器的电容值大于0.5pF。
5.根据权利要求4所述的绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统，其特征在于，
所述电容器的电容值为22pF。
6.根据权利要求5所述的绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统，其特征在于，
所述系统还包括：
自动化检测设备，用于对所述测试座上的待测试产品进行自动化检测。
7.根据权利要求6所述的绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统，其特征在于，
所述高阻计中设置有电容检测元件，高阻计中与测试座对应的测试端子电连接的端口还与所述电容检测元件电连接。
8.根据权利要求7所述的绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统，其特征在于，
所述高阻计的型号为SM7110。
9.根据权利要求1所述的绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统，其特征在于，
所述高阻计通过两根导线分别与测试座的两个端子电连接。
10.根据权利要求1所述的绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统，其特征在于，
所述测试端子为测试探针。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳顺络电子股份有限公司，未经深圳顺络电子股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202022087487.5/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
