[实用新型]一种绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统

说明书

本申请公开一种绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统，属于电阻检测技术领域，包括：测试座，用于放持待测试产品；设置在测试座上的四个测试端子，四个测试端子分别与待测试产品的电极相对应电连接；与两个测试端子电连接的高阻计，用于检测待测试产品的绝缘电阻，测试座与高阻计组成一闭合回路；与另两个测试端子电连接的电容器，电容器与测试座组成另一闭合回路，且电容器与高阻计并联设置；因此使得高阻计能够测量电容器及位于测试座上待测试产品的电容值总和，因此若高阻计的电容值测量结果小于或等于电容器的电容值，则表明了测试端子与待测试产品接触不良，从而能够及时将这些产品剔除或重新测试，因此提高了测试结果的准确性。

技术领域

本申请涉及电阻检测技术领域，具体涉及一种绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统。

背景技术

随着电子信息技术的发展，元器件得到的广泛的应用，其中大多元器件要求其具有较高的绝缘性能，因此出现了多种需要测试绝缘电阻(Cross IR)的元器件，而在元器件出厂的过程中，需要对其绝缘性能进行检测。现有的绝缘检测技术，是通过自动化检测设备来实现元器件的绝缘性能自动化检测，但是，自动化检测过程中会遇到出现测试端子与产品之间接触不良的情况，导致测试错误，从而使得不良品当作良品流向市场。

基于上述情况，市面上出现了检测绝缘电阻的仪器，使用仪器检测绝缘电阻以检测产品的绝缘性能，

上述仪器在使用的过程中，还会通过检测线路电容大小的方式来检测仪器测试端子与产品是否接触不良，但是通常所用的仪器，电容测量精度有限，若电容值在其精度以外，则不能检测出测试端子与产品之间是否存在接触不良的问题，且实际生产过程中是在产品动态状态下测试产品绝缘电阻，若在接触不良的情况下去检测，则会出现仪器测试的是空气的绝缘电阻，因此使用现有的检测绝缘电阻的仪器会影响测试结果的准确性。

发明内容

鉴于此，本申请提供一种测试绝缘电阻检测接触不良的系统，以解决现有的检测绝缘电阻的仪器会影响测试结果的准确性的问题。

本申请提供的一种测试绝缘电阻检测接触不良的系统，包括：测试座，用于放持待测试产品；设置在所述测试座上的四个测试端子，四个所述测试端子分别与待测试产品的电极相对应电连接；与两个所述测试端子电连接的高阻计，用于检测待测试产品的绝缘电阻，所述测试座与所述高阻计组成一闭合回路；与另两个所述测试端子电连接的电容器，所述电容器与所述测试座组成另一闭合回路，且所述电容器与所述高阻计并联设置。

其中，四个所述测试端子分别与高阻计的端口及电容器的两端固定在一起以形成稳定的电连接。

其中，所述电容器为固定容值电容器。

其中，所述高阻计的电容值检测范围为大于或等于0.5pF；所述电容器的电容值大于或等于0.5pF。

其中，所述电容器的电容值为22pF。

其中，所述系统还包括：自动化检测设备，用于对所述测试座上的待测试产品进行自动化检测。

其中，所述高阻计中设置有电容检测元件，高阻计中与测试座对应的测试端子电连接的端口还与所述电容检测元件电连接。

其中，所述高阻计的型号为SM7110。

其中，所述高阻计通过两根导线分别与测试座的两个端子电连接。

其中，所述测试端子为测试探针。

本申请上述的绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统，通过在测试座上使用测试端子同时连接高阻计及电容器，使得高阻计能够测量电容器及位于测试座上待测试产品的电容值总和，因此若高阻计的电容值测量结果小于或等于电容器的电容值，则表明了测试端子与待测试产品接触不良，从而能够及时将这些产品剔除或重新测试，因此提高了测试结果的准确性。

附图说明