[实用新型]一种压接电阻测量装置有效
申请号: | 202022090804.9 | 申请日: | 2020-09-22 |
公开(公告)号: | CN212872569U | 公开(公告)日: | 2021-04-02 |
发明(设计)人: | 黄萍 | 申请(专利权)人: | 上海睿澈自动化设备技术有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R27/02 |
代理公司: | 苏州睿昊知识产权代理事务所(普通合伙) 32277 | 代理人: | 陈华红子 |
地址: | 200000 上海市青浦区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电阻 测量 装置 | ||
1.一种压接电阻测量装置,其特征在于,包括底座,所述底座上设置有:
承托组件,所述承托组件包括承托待测样品的第一承托件和第二承托件;
第一探测组件,其位于所述第一承托件的上侧,所述第一探测组件包括第一基座和第一探针,所述第一探针位于所述第一基座上并向下抵接样品以采集样品的电性值;
第二探测组件,其位于所述第二承托件的上侧,所述第二探测组件包括第二基座和第三探针,所述第三探针位于所述第二基座上并向下抵接样品以采集样品的电性值;
第一驱动组件,其与所述第一探测组件连接并驱动所述第一探测组件运动;
第二驱动组件,其与所述第二探测组件连接并驱动所述第二探测组件运动。
2.如权利要求1所述的压接电阻测量装置,其特征在于,所述第一承托件的上表面开设有第一V形槽。
3.如权利要求1所述的压接电阻测量装置,其特征在于,所述第二承托件的上表面上开设有第二V形槽。
4.如权利要求1所述的压接电阻测量装置,其特征在于,所述第一基座上开设有第一通孔,所述第一探针设置在所述第一通孔内。
5.如权利要求1所述的压接电阻测量装置,其特征在于,所述第二基座上开设有第二通孔,所述第三探针设置在所述第二通孔内。
6.如权利要求1所述的压接电阻测量装置,其特征在于,所述第一探测组件还包括第二探针,所述第二探测组件还包括第四探针,所述第二探针和第四探针抵压样品以对样品供电。
7.如权利要求1所述的压接电阻测量装置,其特征在于,还包括调节组件,所述调节组件包括第一安装座和调节杆,所述第一安装座上开设有螺纹孔,所述调节杆与所述螺纹孔配合设置,所述调节杆的端部抵接样品的端部。
8.如权利要求1所述的压接电阻测量装置,其特征在于,所述第一驱动组件与所述第一基座之间设置有第一连接件,所述第一基座与所述第一连接件可拆卸连接,所述第一驱动组件带动所述第一基座做旋转及升降动作。
9.如权利要求1所述的压接电阻测量装置,其特征在于,所述第二驱动组件与所述第二基座之间设置有第二连接件,所述第二基座与所述第二连接件可拆卸连接,所述第二驱动组件带动所述第二基座做旋转及升降动作。
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