[实用新型]一种晶片等离子CMP抛光的装置有效

专利信息
申请号: 202022103892.1 申请日: 2020-09-23
公开(公告)号: CN213004167U 公开(公告)日: 2021-04-20
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 哈尔滨化兴软控科技有限公司
主分类号: B24B1/00 分类号: B24B1/00;B24B41/06;B24B37/30;B24B37/10
代理公司: 哈尔滨市伟晨专利代理事务所(普通合伙) 23209 代理人: 韩立岩
地址: 150000 黑龙江省哈尔*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 一种 晶片 等离子 cmp 抛光 装置
【权利要求书】:

1.一种晶片等离子CMP抛光的装置,其特征在于:包括装载机构(14)、抛光机构(15)和加热筒(12),装载机构(14)布置在抛光机构(15)上方,加热筒(12)安装在抛光机构(15)上;

所述装载机构(14)包括可移动载晶片头(1)、抽真空口(2)、晶片旋转电机(3)、等离子阴极片(4)、载晶片软膜(5)和晶片(6),可移动载晶片头(1)底部安装有晶片旋转电机(3),晶片旋转电机(3)上安装有等离子阴极片(4),载晶片软膜(5)放置在等离子阴极片(4)上,载晶片软膜(5)用于放置晶片(6),在可移动载晶片头(1)上开有抽真空口(2);

所述抛光机构(15)包括环形抛光垫(7)、抛光垫支撑板(8)和支撑电旋转电机(9),环形抛光垫(7)放置在抛光垫支撑板(8)上方,抛光垫支撑板(8)的底部中心安装有支撑电旋转电机(9)。

2.根据权利要求1所述的一种晶片等离子CMP抛光的装置,其特征在于:所述加热筒(12)上安装有高压阳极板(11),加热筒(12)的内部开有高压管(13)。

3.根据权利要求2所述的一种晶片等离子CMP抛光的装置,其特征在于:所述高压阳极板(11)上开有通孔。

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