[实用新型]VDMOS器件、控制电路、电池管理芯片及电设备有效
申请号: | 202022149568.3 | 申请日: | 2020-09-25 |
公开(公告)号: | CN212258509U | 公开(公告)日: | 2020-12-29 |
发明(设计)人: | 乔明;陈勇;张发备;周号 | 申请(专利权)人: | 珠海迈巨微电子有限责任公司 |
主分类号: | H02J7/00 | 分类号: | H02J7/00;H01L27/088;H01L29/78;G01R31/382 |
代理公司: | 北京庚致知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11807 | 代理人: | 李伟波;韩德凯 |
地址: | 519000 广东省珠海市高新区唐家*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | vdmos 器件 控制电路 电池 管理 芯片 设备 | ||
本公开提供了一种VDMOS器件,用于控制电池的充电电流与放电电流,包括:衬底,为第一导电类型;外延层,设置在衬底上并且为第一导电类型;第一元胞结构区,包括形成在外延层中的元胞结构,以构成用作充电开关的充电MOSFET;第二元胞结构区,包括形成在外延层中的元胞结构,以构成用作放电开关的放电MOSFET;以及第三元胞结构区,包括形成在外延层中的元胞结构,以构成采样MOSFET,采样MOSFET用于采集流过充电MOSFET和放电MOSFET的电流。本公开还提供了一种控制电路、电池管理芯片及电设备。
技术领域
本公开涉及一种VDMOS器件、控制电路、电池管理芯片及电设备。
背景技术
在对锂电池等电池的充放电进行控制时,为了安全和电池寿命等,需要对电池的充放电电流进行测量。通常需要外接电阻来对充电电流和放电电流进行检测。
现有技术中,采用外接检测电阻来对充电电流和放电电流进行检测时(例如检测电阻与充放电开关串联在电流回路中),检测电阻需要串联在电流回路中,这样在充放电电流比较大的情况下,检测电阻的功耗很大。
另外也可以通过充放电开关的导通阻抗来对电流进行检测,但是该导通阻抗必须足够大,以便能够采集到足够大的检测电压,从而来进行检测。如果导通阻抗比较大,则充放电开关所产生的功耗必然也很大。
此外,在过滤保护方面,图19给出了现有技术中的用于锂电池保护的过流保护电路。
电池正常放电时,保护开关驱动电路的输出OD和OC端口的电压通常为VDD、5V或15V左右,OD和OC分别连接到MOSFET M1和M2的栅极(G),此时M1和M2工作在线性区,M1和M2的漏极(D)和源极(S)等效为一个导通电阻,电阻值为RON。放电电流Idsg从P-端流向B-端,P-端的电压较高,当检测到P-端与B-端的压差(Idsg*RON)达到某一限定值时,OD电压从VDD变为B-,OC仍保持VDD电位,这样放电开关M1断开。类似地,电池正常充电时,M1、M2的栅极(G)为电池电压VDD。电流从B-端流向P-端,P-端的电压较低,当B-端与P-端的压差(Ichg*RON)达到某一限定值,OC电压从VDD变为B-,OD保持VDD电位,这样充电开关M2断开。
但是,MOSFET M1和M2的导通电阻和电池温度、电池电压相关。如果只通过检测B-端与P-端之间的压差来判断是否过流,误差将会达到±30%以上。
另外,在现有技术中,也存在检测MOSFET M1和M2的漏源电压VDS来采样充放电电流的方案。
根据MOSFET的导通电阻采样充放电电流的基本原理如图20所示(以NMOS为例进行说明,对于PMOS,原理相同,在此不再赘述)。
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