[实用新型]晶圆盒调平装置有效
申请号: | 202022303531.1 | 申请日: | 2020-10-15 |
公开(公告)号: | CN213635925U | 公开(公告)日: | 2021-07-06 |
发明(设计)人: | 杜振东;舒贻胜;宋金梁;郭剑飞;姚建强;黄长兴;陈夏薇;谢世敏 | 申请(专利权)人: | 杭州长川科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/673 | 分类号: | H01L21/673 |
代理公司: | 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 | 代理人: | 蒋豹 |
地址: | 310051 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 晶圆盒调 平装 | ||
本申请涉及调平装置技术领域,特别是涉及一种晶圆盒调平装置。该晶圆盒调平装置包括平台组件以及第一调节组件,第一调节组件的一端用于承载晶圆盒,另一端转动地安装于平台组件,第一调节组件能够相对平台组件升降,并带动晶圆盒相对平台组件运动,以调节晶圆盒相对平台组件的位置。本申请的优点在于:在晶圆盒需要进行水平调节时,能够通过转动第一调节组件,使晶圆盒水平,同时,可实现单独调平晶圆盒,调节更加简易,结构简单加工成本低且便于检修,避免因晶圆盒调平装置在使用时因振动磨损导致不水平,需要通过调节整个装置水平的方式来调平晶圆盒。
技术领域
本申请涉及调平装置技术领域,特别是涉及一种晶圆盒调平装置。
背景技术
晶圆盒在半导体生产运输中主要起储存和输送晶圆的作用,能够降低晶圆被污染的风险。晶圆在测试过程中需要机械手在晶圆盒中对晶圆进行取放操作,该过程对晶圆的水平度有较高的要求,水平度偏差严重的情况下会导致机械手撞坏晶圆。
现有晶圆测试装备的晶圆盒放置在晶圆加载平台上,晶圆盒的水平主要通过加工、调节整个晶圆加载平台的水平来实现。
但,后期如果因为机台振动导致平台不水平,需要通过调节地脚等方式来解决,使水平调节比较困难;且晶圆盒调平装置结构复杂、体积大、质量重、不便于检修且装配精度高,多种规格晶圆盒的水平靠机械装配精度实现,无法单独进行独立稳定地水平调节。
实用新型内容
有鉴于此,针对上述技术问题,有必要提供一种能够独立调平不同规格晶圆盒、调节简易、结构简单加工成本低且便于检修的晶圆盒调平装置。
为解决上述技术问题,本申请提供如下技术方案:
一种晶圆盒调平装置包括平台组件以及第一调节组件,所述第一调节组件的一端用于承载晶圆盒,另一端转动地安装于所述平台组件,所述第一调节组件能够相对所述平台组件升降,并带动所述晶圆盒相对所述平台组件运动,以调节所述晶圆盒相对所述平台组件的位置。
在本申请中,将第一调节组件安装于平台组件,晶圆盒置于第一调节组件上,在晶圆盒需要进行水平调节时,可转动第一调节组件,使第一调节组件能够相对于平台组件升降,从而实现晶圆盒的水平调节;同时,可实现单独调平晶圆盒,使调节更加简易,避免因晶圆盒调平装置在使用时因振动磨损导致不水平,需要通过调节整个装置水平的方式来调平晶圆盒。
在其中一个实施例中,所述第一调节组件的数量为多组,多组所述第一调节组件以阵列方式布置于所述平台组件上,且每组所述第一调节组件能够独立地相对所述平台组件升降。
如此设置,在晶圆盒需要进行水平调节时,可以通过分别转动每组第一调节组件,实现晶圆盒的局部调整,提高对晶圆盒进行更精准的调节。
在其中一个实施例中,所述第一调节组件包括第一调节件以及第一锁紧件,所述平台组件上开设有第一调节孔,所述第一调节件一端安装于所述第一调节孔内,所述晶圆盒安装于所述第一调节件的另一端,所述第一调节件能够沿着所述第一调节孔的轴线方向升降,所述第一锁紧件套设于所述第一调节件,用于锁紧调节后的所述第一调节件。
如此设置,将第一调节件安装于第一调节孔内,通过调节第一调节件的高度,实现晶圆盒的水平调节,再通过锁紧第一锁紧件来实现第一调节件的位置稳定可靠。
在其中一个实施例中,所述晶圆盒调平装置还包括第二调节组件,所述第二调节组件设于所述平台组件上,用于调整所述平台组件的水平度。
如此设置,再结合第一调节组件对晶圆盒的水平位置的调节,可以实现对晶圆盒的多层次调节,使得调节的精度更高,进一步避免取放时晶圆盒的损坏。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造