[实用新型]一种芯片测试轻便降温机构有效
申请号: | 202022339244.6 | 申请日: | 2020-10-20 |
公开(公告)号: | CN213275873U | 公开(公告)日: | 2021-05-25 |
发明(设计)人: | 王战朋 | 申请(专利权)人: | 苏州武乐川精密电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/02;H05K7/20 |
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地址: | 215000 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 芯片 测试 轻便 降温 机构 | ||
1.一种芯片测试轻便降温机构,其特征在于,包括:气路转接头(1),所述气路转接头(1)上设有下螺丝孔(2),所述气路转接头(1)的上侧设有盖板(3),所述盖板(3)上设有上螺丝孔(4)和进气孔(5),所述进气孔(5)与气路转接头(1)之间安装有橡皮圈(6),所述气路转接头(1)的两侧分别连接有不锈钢气管(7),所述不锈钢气管(7)的前端安装有气接头(8),所述气接头(8)与不锈钢气管(7)之间安装有密封圈(9),所述气接头(8)的下端设有出气孔(10),所述出气孔(10)内安装有海绵(11)。
2.根据权利要求1所述的一种芯片测试轻便降温机构,其特征在于,所述气接头(8)为PEEK材质。
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