[实用新型]存储器和存储器测试系统

权利要求书

1.一种存储器，其特征在于，包括：

输入电路，适于接收外部时钟信号，并输出第一测试时钟信号；

测试路径选择电路，与所述输入电路连接，适于根据读出时钟命令输出第二测试时钟信号；

输出电路，与所述测试路径选择电路连接，适于将所述第二测试时钟信号转换为第三测试时钟信号输出到存储器外部。

2.根据权利要求1所述的存储器，其特征在于，所述输入电路还输出第一正常时钟信号，所述第一正常时钟信号与所述第一测试时钟信号的频率和相位相同。

3.根据权利要求2所述的存储器，其特征在于，还包括存储块，所述第一正常时钟信号适于对所述存储块进行读写操作的时钟源。

4.根据权利要求1所述的存储器，其特征在于，所述第一测试时钟信号与所述外部时钟信号的频率相同。

5.根据权利要求1所述的存储器，其特征在于，当所述读出时钟命令为低时，所述测试路径选择电路输出的所述第二测试时钟信号为低电平；当所述读出时钟命令为高时，所述测试路径选择电路输出的所述第二测试时钟信号与所述第一测试时钟信号的频率相同。

6.根据权利要求1所述的存储器，其特征在于，还包括测试模式模块，所述测试模式模块输出所述读出时钟命令。

7.一种存储器测试系统，其特征在于，包括：

多个如权利要求1至6任一所述的存储器，将所述存储器依次编号为1至N，所述N为大于等于2的整数；

测试卡，输出地址信息、命令信息、第零测试时钟信号、片选信息至所述编号为1至N的存储器，并接收所述编号为1至N的存储器的数据信息。

8.根据权利要求7所述的存储器测试系统，其特征在于，所述测试卡具有N个片选输出端输出所述片选信息和N个数据接收端接收所述数据信息，与所述编号为1至N的存储器一一对应连接。

9.根据权利要求8所述的存储器测试系统，其特征在于，所述编号为1至N的存储器共用所述测试卡输出的所述地址信息、所述命令信息和所述第零测试时钟信号。

10.根据权利要求9所述的存储器测试系统，其特征在于，所述测试卡的所述第零测试时钟信号送至所述存储器的所述输入电路，所述存储器的所述第三测试时钟信号送至所述测试卡对应的所述数据接收端。