[实用新型]一种晶圆裸眼检视装置有效
申请号: | 202022515891.8 | 申请日: | 2020-11-03 |
公开(公告)号: | CN213184216U | 公开(公告)日: | 2021-05-11 |
发明(设计)人: | 苏广峰;周友 | 申请(专利权)人: | 安测半导体技术(江苏)有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 北京文苑专利代理有限公司 11516 | 代理人: | 周会 |
地址: | 225000 江苏省扬州市高*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 裸眼 检视 装置 | ||
1.一种晶圆裸眼检视装置,其特征在于,包括暗室和设置在暗室内的晶圆承载移动装置(6),所述暗室一侧上开有观察窗,所述暗室内顶端上设有一冷白色LED光源(2)和多个防静电离子风扇(3),所述晶圆承载移动装置(6)内设有放置晶圆的凹槽。
2.根据权利要求1所述晶圆裸眼检视装置,其特征在于,所述暗室由前挡板(9)、后挡板(10)、两个侧挡板(4)和顶盖(1)组成,所述观察窗设置在其中一个侧挡板(4)上,所述冷白色LED光源(2)和多个防静电离子风扇(3)均设置在顶盖上。
3.根据权利要求2所述晶圆裸眼检视装置,其特征在于,所述前挡板(9)、后挡板(10)、两个侧挡板(4)以及顶盖(1)均为黑色抗静电瓦楞板。
4.根据权利要求1所述晶圆裸眼检视装置,其特征在于,所述暗室设置在支架(8)上,所述支架(8)上设置有滑轨(5),所述晶圆承载移动装置(6)安装在滑轨(5)上,且所述晶圆承载移动装置(6)底端安装有把手(7)。
5.根据权利要求1所述晶圆裸眼检视装置,其特征在于,所述前挡板(9)的高度小于后挡板(10)的高度,所述顶盖(1)自与后挡板(10)连接一端向与前挡板(9)连接一端由高向低设置。
6.根据权利要求5所述晶圆裸眼检视装置,其特征在于,所述顶盖(1)与水平面间形成15-20°的夹角。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造