[实用新型]一种防护性能好的集成电路测试仪

权利要求书

1.一种防护性能好的集成电路测试仪，包括外壳（1），其特征在于：所述外壳（1）内腔的两侧均设置有第一滑杆（2），所述第一滑杆（2）的两端均与外壳（1）的内壁固定连接，所述第一滑杆（2）的表面套设有第一滑套（3），两个第一滑套（3）之间固定连接有支撑板（4），所述支撑板（4）的顶部固定连接有测试仪本体（5），所述外壳（1）内腔的底部固定连接有电动伸缩杆（6），所述电动伸缩杆（6）两侧的输出端均活动连接有支撑条（7），所述支撑条（7）远离电动伸缩杆（6）的一端与支撑板（4）活动连接，所述外壳（1）的顶部开设有与测试仪本体（5）配合使用的开口（8），所述外壳（1）顶部的左侧活动连接有盖板（9），所述盖板（9）的右侧固定连接有固定壳（10），所述固定壳（10）的内腔设置有旋转块（11），所述旋转块（11）的顶部固定连接有旋转杆（12），所述旋转杆（12）的顶部延伸至固定壳（10）的顶部并固定连接有手轮（13），所述旋转块（11）的底部固定连接有螺纹杆（14），所述外壳（1）顶部的右侧开设有与螺纹杆（14）配合使用的螺纹孔（15），所述螺纹杆（14）的底部贯穿固定壳（10）并延伸至螺纹孔（15）的内腔。

2.根据权利要求1所述的一种防护性能好的集成电路测试仪，其特征在于：所述外壳（1）的底部固定连接有支撑块（16），所述支撑块（16）的数量为四个，且均匀分布于外壳（1）底部的四角。

3.根据权利要求1所述的一种防护性能好的集成电路测试仪，其特征在于：所述支撑条（7）的两端与电动伸缩杆（6）和支撑板（4）的连接处均通过第一转轴活动连接，所述外壳（1）顶部的左侧与盖板（9）的连接处通过第二转轴活动连接。

4.根据权利要求1所述的一种防护性能好的集成电路测试仪，其特征在于：所述外壳（1）内腔底部的两侧均开设有凹槽（17），所述凹槽（17）内腔的两侧之间固定连接有第二滑杆（18），所述第二滑杆（18）的表面套设有第二滑套（19），所述第二滑套（19）的顶部与电动伸缩杆（6）的输出端固定连接。

5.根据权利要求1所述的一种防护性能好的集成电路测试仪，其特征在于：所述外壳（1）两侧的顶部均开设有扣槽（20），所述螺纹杆（14）的表面与固定壳（10）的连接处通过螺纹连接。