[实用新型]一种防护性能好的集成电路测试仪有效
申请号: | 202022533122.0 | 申请日: | 2020-11-05 |
公开(公告)号: | CN213934104U | 公开(公告)日: | 2021-08-10 |
发明(设计)人: | 黄炯权 | 申请(专利权)人: | 陕西桥方电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
代理公司: | 成都弘毅天承知识产权代理有限公司 51230 | 代理人: | 杨保刚 |
地址: | 710000 陕西省西安市高新*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 防护 性能 集成电路 测试仪 | ||
本实用新型公开了一种防护性能好的集成电路测试仪,包括外壳,所述外壳内腔的两侧均设置有第一滑杆,所述第一滑杆的两端均与外壳的内壁固定连接,所述第一滑杆的表面套设有第一滑套,两个第一滑套之间固定连接有支撑板,所述支撑板的顶部固定连接有测试仪本体,外壳内腔的底部固定连接有电动伸缩杆。本实用新型通过设置外壳、第一滑杆、第一滑套、支撑板、测试仪本体、电动伸缩杆、支撑条、开口、盖板、固定壳、旋转块、旋转杆、手轮、螺纹杆和螺纹孔,能够在不需要使用测试仪时将其收入外壳中进行保护,从而提高测试仪的防护性能,解决了现有集成电路测试仪防护性能较差的问题,该集成电路测试仪,具备防护性能好的优点。
技术领域
本实用新型涉及测试仪技术领域,具体为一种防护性能好的集成电路测试仪。
背景技术
集成电路测试仪是对集成电路进行测试的专用仪器设备,集成电路测试是保证集成电路性能、质量的关键手段之一,但是现有的集成电路测试仪还是存在着防护性能较差的问题,当不需要使用集成电路测试仪时,集成电路测试仪始终裸露在外界,容易因为外界碰撞等原因导致其受损,不能满足当今市场的需求,由于以上存在的问题,降低了集成电路测试仪的实用性和使用性,针对性地推出了一种防护性能好的集成电路测试仪。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种防护性能好的集成电路测试仪,具备防护性能好的优点,解决了现有集成电路测试仪防护性能较差的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种防护性能好的集成电路测试仪,包括外壳,所述外壳内腔的两侧均设置有第一滑杆,所述第一滑杆的两端均与外壳的内壁固定连接,所述第一滑杆的表面套设有第一滑套,两个第一滑套之间固定连接有支撑板,所述支撑板的顶部固定连接有测试仪本体,所述外壳内腔的底部固定连接有电动伸缩杆,所述电动伸缩杆两侧的输出端均活动连接有支撑条,所述支撑条远离电动伸缩杆的一端与支撑板活动连接,所述外壳的顶部开设有与测试仪本体配合使用的开口,所述外壳顶部的左侧活动连接有盖板,所述盖板的右侧固定连接有固定壳,所述固定壳的内腔设置有旋转块,所述旋转块的顶部固定连接有旋转杆,所述旋转杆的顶部延伸至固定壳的顶部并固定连接有手轮,所述旋转块的底部固定连接有螺纹杆,所述外壳顶部的右侧开设有与螺纹杆配合使用的螺纹孔,所述螺纹杆的底部贯穿固定壳并延伸至螺纹孔的内腔。
优选的,所述外壳的底部固定连接有支撑块,所述支撑块的数量为四个,且均匀分布于外壳底部的四角。
优选的,所述支撑条的两端与电动伸缩杆和支撑板的连接处均通过第一转轴活动连接,所述外壳顶部的左侧与盖板的连接处通过第二转轴活动连接。
优选的,所述外壳内腔底部的两侧均开设有凹槽,所述凹槽内腔的两侧之间固定连接有第二滑杆,所述第二滑杆的表面套设有第二滑套,所述第二滑套的顶部与电动伸缩杆的输出端固定连接。
优选的,所述外壳两侧的顶部均开设有扣槽,所述螺纹杆的表面与固定壳的连接处通过螺纹连接。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果如下:
1、本实用新型通过设置外壳、第一滑杆、第一滑套、支撑板、测试仪本体、电动伸缩杆、支撑条、开口、盖板、固定壳、旋转块、旋转杆、手轮、螺纹杆和螺纹孔,能够在不需要使用测试仪时将其收入外壳中进行保护,从而提高测试仪的防护性能,解决了现有集成电路测试仪防护性能较差的问题,该集成电路测试仪,具备防护性能好的优点,值得推广。
2、本实用新型通过设置第一滑杆和第二滑杆,能够提高支撑板移动的稳定性,通过第二滑杆和第二滑套,能够增加电动伸缩杆输出端移动的稳定性,通过设置支撑条,能够起到支撑支撑板的作用,通过设置开口,能够便于取出测试仪,通过设置支撑块,能够避免外壳底部直接与地面接触,通过设置扣槽,能够便于使用者移动外壳。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图;
图2为本实用新型结构主视图;
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