[实用新型]一种传感器芯片标定测试调度装置

权利要求书

1.一种传感器芯片标定测试调度装置，用于调度传感器标定线上多个传感器的芯片载板在N个芯片测试区同时进行标定测试，所述传感器标定线包括顺序连接的N-1个温区和1个复测区、一条贯穿整线的传输机构，所述N-1个温区为低温区、常温区、高温区，每个温区包括一个预温箱、一个测试箱、一个缓冲箱、一个过渡箱，所述高温区不包含过渡箱；所述复测区包括一个降温箱、一个写入箱、一个复测箱；所述传输机构用于将进行标定测试的各芯片载板依次转移到各温区的预温箱、测试箱、缓冲箱、过渡箱、复测区的降温箱、写入箱和复测箱，其中N为大于等于2、小于等于4的整数，其特征在于，所述装置包括：

装载单元(1)，四个测试温区(2-1)、(2-2)、(2-3)、(2-4)，传输机构(3)，卸载单元(4)；其中，第一测试温区(2-1)包括低温预温箱、低温测试箱、低温缓冲箱、低温过渡箱；第二测试温区(2-2)包括常温预温箱、常温测试箱、常温缓冲箱、常温过渡箱；第三测试温区(2-3)包括高温预温箱、高温测试箱、高温缓冲箱；第四测试温区(2-4)包括降温箱、写入箱、复测箱。

2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述芯片载板为容纳64片5mm×5mm的芯片，材质为PCB，芯片间距为10mm。

3.如权利要求1所述的装置，其特征在于，芯片载板从低温区过渡箱进入常温区预温箱时、从常温区过渡箱进入高温区预温箱时、从复测区写入箱进入复测箱时均存在准入温度阈值条件。