[实用新型]一种三端子贴片元器件的共面度检测治具及其套件

权利要求书

1.一种三端子贴片元器件的共面度检测治具，其特征在于，用于对所述三端子贴片元器件进行共面度检测，所述三端子贴片元器件包括共用PIN端子、PIN1端子和PIN2端子，所述共面度检测治具包括治具基体、共用PIN测试电极、PIN1测试电极、PIN2测试电极、测试电路组件，所述共用PIN测试电极、所述PIN1测试电极、所述PIN2测试电极分别设置在所述治具基体的上表面上，且所述共用PIN测试电极、所述PIN1测试电极和所述PIN2测试电极的位置与所述共用PIN端子、所述PIN1端子和所述PIN2端子的位置分别一一对应，其中所述测试电路组件包括第一测试电路和/或第二测试电路，所述第一测试电路的两端分别与所述共用PIN测试电极和所述PIN1测试电极电连接，所述第二测试电路的两端分别与所述共用PIN测试电极和所述PIN2测试电极电连接，所述共用PIN测试电极与所述PIN1测试电极和所述PIN2测试电极中的至少一个的上表面是共面的。

2.根据权利要求1所述的三端子贴片元器件的共面度检测治具，其特征在于，所述共用PIN测试电极与所述PIN1测试电极和所述PIN2测试电极的上表面均是共面的，且所述测试电路组件包括第一测试电路和第二测试电路。

3.根据权利要求1所述的三端子贴片元器件的共面度检测治具，其特征在于，所述共用PIN测试电极与所述PIN2测试电极的上表面是共面的，所述PIN1测试电极的上表面比所述共用PIN测试电极的上表面高出预设高度，且所述测试电路组件包括第一测试电路和第二测试电路，或者仅包括第一测试电路。

4.根据权利要求1所述的三端子贴片元器件的共面度检测治具，其特征在于，所述共用PIN测试电极与所述PIN1测试电极的上表面是共面的，所述PIN2测试电极的上表面比所述共用PIN测试电极的上表面高出预设高度，且所述测试电路组件包括第一测试电路和第二测试电路，或者仅包括第二测试电路。

5.根据权利要求3或4所述的三端子贴片元器件的共面度检测治具，其特征在于，所述预设高度是所述三端子贴片元器件的共面度标准高度。

6.根据权利要求3或4所述的三端子贴片元器件的共面度检测治具，其特征在于，所述预设高度是0.01～0.5mm。

7.根据权利要求1至4任一项所述的三端子贴片元器件的共面度检测治具，其特征在于，所述第一测试电路包括相互电连接的第一电源和第一指示灯，所述第二测试电路包括相互电连接的第二电源和第二指示灯。

8.一种三端子贴片元器件的共面度检测套件，其特征在于，用于对三端子贴片元器件进行共面度检测，包括三个如权利要求1所述的共面度检测治具，其中第一个所述共面度检测治具的所述共用PIN测试电极与所述PIN1测试电极和所述PIN2测试电极的上表面均是共面的，且其中的所述测试电路组件包括第一测试电路和第二测试电路；第二个所述共面度检测治具的所述共用PIN测试电极与所述PIN2测试电极的上表面是共面的且所述PIN1测试电极的上表面比所述共用PIN测试电极的上表面高出预设高度，且其中的所述测试电路组件包括第一测试电路和第二测试电路，或者仅包括第一测试电路；第三个所述共面度检测治具的所述共用PIN测试电极与所述PIN1测试电极的上表面是共面的且所述PIN2测试电极的上表面比所述共用PIN测试电极的上表面高出预设高度，且其中的所述测试电路组件包括第一测试电路和第二测试电路，或者仅包括第一测试电路。

9.根据权利要求8所述的三端子贴片元器件的共面度检测套件，其特征在于，所述预设高度是所述三端子贴片元器件的共面度标准高度。

10.根据权利要求8或9所述的三端子贴片元器件的共面度检测套件，其特征在于，所述第一测试电路包括相互电连接的第一电源和第一指示灯，所述第二测试电路包括相互电连接的第二电源和第二指示灯。