[实用新型]一种三端子贴片元器件的共面度检测治具及其套件

说明书

本实用新型公开了一种三端子贴片元器件的共面度检测治具及其套件，用于对三端子贴片元器件进行共面度检测，三端子贴片元器件包括共用PIN端子、PIN1端子和PIN2端子，共面度检测治具包括治具基体、共用PIN测试电极、PIN1测试电极、PIN2测试电极、测试电路组件，共用PIN测试电极、PIN1测试电极、PIN2测试电极分别设置在治具基体的上表面上，测试电路组件包括第一测试电路和/或第二测试电路，第一测试电路的两端分别与共用PIN测试电极和PIN1测试电极电连接，第二测试电路的两端分别与共用PIN测试电极和PIN2测试电极电连接，共用PIN测试电极与PIN1测试电极和PIN2测试电极中的至少一个的上表面是共面的。本实用新型去除了人为因素影响，而且效率得到了有效提高。

技术领域

本实用新型涉及贴片元器件技术领域，尤其涉及一种三端子贴片元器件的共面度检测治具及其套件。

背景技术

目前行业内关于三个端子类产品的共面度检测，通常将产品放在平台上，然后目测是否有缝隙，如果有缝隙，均需要用塞尺确认端子与平台之间缝隙是否超过标准管控范围，如果没超过管控范围则为合格品，如果超过管控范围则为不合格品。这种检测方法受人为因素(人的情绪因素、塞尺手法、视觉疲劳等)影响，可能导致判断误差较大(因错判而流出的风险高，误判导致合格率低)，并且效率低。

以上背景技术内容的公开仅用于辅助理解本实用新型的构思及技术方案，其并不必然属于本专利申请的现有技术，在没有明确的证据表明上述内容在本专利申请的申请日已经公开的情况下，上述背景技术不应当用于评价本申请的新颖性和创造性。

实用新型内容

为解决上述技术问题，本实用新型提出一种三端子贴片元器件的共面检测治具及其套件，能够方便地对三端子贴片元器件进行共面检测，去除人为因素影响，而且效率得到有效提高。

为了达到上述目的，本实用新型采用以下技术方案：

本实用新型的一个实施例公开了一种三端子贴片元器件的共面度检测治具，用于对所述三端子贴片元器件进行共面度检测，所述三端子贴片元器件包括共用 PIN端子、PIN1端子和PIN2端子，所述共面度检测治具包括治具基体、共用 PIN测试电极、PIN1测试电极、PIN2测试电极、测试电路组件，所述共用PIN 测试电极、所述PIN1测试电极、所述PIN2测试电极分别设置在所述治具基体的上表面上，且所述共用PIN测试电极、所述PIN1测试电极和所述PIN2测试电极的位置与所述共用PIN端子、所述PIN1端子和所述PIN2端子的位置分别一一对应，其中所述测试电路组件包括第一测试电路和/或第二测试电路，所述第一测试电路的两端分别与所述共用PIN测试电极和所述PIN1测试电极电连接，所述第二测试电路的两端分别与所述共用PIN测试电极和所述PIN2测试电极电连接，所述共用PIN测试电极与所述PIN1测试电极和所述PIN2测试电极中的至少一个的上表面是共面的。

优选地，所述共用PIN测试电极与所述PIN1测试电极和所述PIN2测试电极的上表面均是共面的，且所述测试电路组件包括第一测试电路和第二测试电路。

优选地，所述共用PIN测试电极与所述PIN2测试电极的上表面是共面的，所述PIN1测试电极的上表面比所述共用PIN测试电极的上表面高出预设高度，且所述测试电路组件包括第一测试电路和第二测试电路，或者仅包括第一测试电路。

优选地，所述共用PIN测试电极与所述PIN1测试电极的上表面是共面的，所述PIN2测试电极的上表面比所述共用PIN测试电极的上表面高出预设高度，且所述测试电路组件包括第一测试电路和第二测试电路，或者仅包括第二测试电路。

优选地，所述预设高度是所述三端子贴片元器件的共面度标准高度。

优选地，所述预设高度是0.01～0.5mm。

优选地，所述第一测试电路包括相互电连接的第一电源和第一指示灯，所述第二测试电路包括相互电连接的第二电源和第二指示灯。