[实用新型]一种晶片生产用多功能检查台

说明书

本实用新型公开了一种晶片生产用多功能检查台，包括测试机，所述测试机上端面中心处靠前端和靠后端的位置分别固定设置有操作板和操作屏，所述测试机上端面位于操作板的一侧中心处开设有密封槽，所述测试机上端面位于密封槽的前端和后端均开设有滑槽，所述测试机上端面位于密封槽的上端活动设置有滑板，所述滑板下端面靠前侧和靠后侧均固定设置有滑块，两个所述滑块远离滑板的一端分别活动设置在滑槽内，所述密封槽底面中心处固定设置有探针卡，所述探针卡上端面中心处开设有探槽。本实用新型公开了一种晶片生产用多功能检查台，该新型晶片生产用多功能检查台检测的更加全面，效率更高。

技术领域

本实用新型涉及晶片检测技术领域，尤其涉及一种晶片生产用多功能检查台。

背景技术

集成电路英语：integratedcircuit，缩写作IC；或称微电路、微芯片、晶片/芯片在电子学中是一种将电路小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上。

在使用芯片之前，往往需要对芯片进行测试，测试合格的芯片才可以使用，但是现有的芯片测试方式太过单一，无法全面了解芯片的各个性能，整个测试过程不仅麻烦还会浪费大量的人力和财力。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种晶片生产用多功能检查台。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：一种晶片生产用多功能检查台，包括测试机，所述测试机上端面中心处靠前端和靠后端的位置分别固定设置有操作板和操作屏，所述测试机上端面位于操作板的一侧中心处开设有密封槽，所述测试机上端面位于密封槽的前端和后端均开设有滑槽，所述测试机上端面位于密封槽的上端活动设置有滑板，所述滑板下端面靠前侧和靠后侧均固定设置有滑块，两个所述滑块远离滑板的一端分别活动设置在滑槽内，所述密封槽底面中心处固定设置有探针卡，所述探针卡上端面中心处开设有探槽，所述测试机上端面位于密封槽的后侧中心处固定设置有一号伸缩杆，所述一号伸缩杆的上端固定设置有支撑杆，所述支撑杆下端面靠前侧的位置固定设置有小型显微镜，所述测试机上端面远离密封槽的一侧靠前端的位置固定设置有下护盖，所述下护盖的底面中心处开设有放置槽，所述下护盖后侧靠上端的位置固定设置有合页，所述合页远离下护盖的一端固定设置有上护盖，所述上护盖上端面靠前侧的中心处固定设置有计时器，所述下护盖前侧靠上端的位置固定设置有二号固定头，所述上护盖前侧靠下端的位置固定设置有一号固定头，所述一号固定头的上端中心处设置有螺栓，所述螺栓的下端贯穿一号固定头和二号固定头通至二号固定头的下端，所述螺栓的栓身位于二号固定头的下端螺纹套接有螺母，所述测试机上端面位于下护盖的后侧开设有枪槽，所述枪槽的内端活动设置有静电枪。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述上护盖上端面中心处固定设置有拉杆。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述滑板上端面中心处固定设置有推杆。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述测试机两侧中心处均固定设置有推手。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述测试机下端面靠近四角处均固定设置有二号伸缩杆。

作为上述技术方案的进一步描述：

四个所述二号伸缩杆的下端均固定设置有自锁万向轮。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述测试机分别与探针卡、加热灯、小型显微镜、操作板、操作屏、静电枪电性连接。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述下护盖的上端和上护盖的下端均固定设置有橡胶垫。

本实用新型具有如下有益效果：