[实用新型]一种激光光路检偏装置及自动校正装置有效
申请号: | 202022613654.5 | 申请日: | 2020-11-12 |
公开(公告)号: | CN213827594U | 公开(公告)日: | 2021-07-30 |
发明(设计)人: | 黄汉杰;杨凌杰;付乐;杨伟林;张鑫;王灿 | 申请(专利权)人: | 友芯(厦门)半导体设备有限公司 |
主分类号: | B23K26/70 | 分类号: | B23K26/70;G01M11/02;G01B11/27 |
代理公司: | 厦门加减专利代理事务所(普通合伙) 35234 | 代理人: | 李强 |
地址: | 361101 福建省厦门市火炬高新区(*** | 国省代码: | 福建;35 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 激光 光路检偏 装置 自动 校正 | ||
1.一种激光光路检偏装置,其特征在于:包括激光器(10),光路调整构件(20)、光束采样镜(30)、聚焦物镜(40)、载物台(50)、检测光聚焦透镜(60)和ccd模组(70);
所述激光器(10)发射出的光束通过光路调整构件(20)依次经光束采样镜(30)和聚焦物镜(40)聚焦至载物台(50);
所述光路调整构件(20)和聚焦物镜(40)之间设置有至少两组光束采样镜(30),每组所述光束采样镜(30)将部分光束通过所述检测光聚焦透镜(60)反射至ccd模组(70)。
2.根据权利要求1所述的一种激光光路检偏装置,其特征在于:所述激光器(10)发射出的光束通过反射光路反射至光路调整构件(20);
所述反射光路至少包括一组反射镜(11)。
3.根据权利要求1所述的一种激光光路检偏装置,其特征在于:所述光路调整构件(20)包括依次设置的第一光路调整构件(21)、第二光路调整构件(22)。
4.根据权利要求1所述的一种激光光路检偏装置,其特征在于:所述光束采样镜(30)包括依次设置的第一光束采样镜(31)和第二光束采样镜(32);
所述第一光束采样镜(31)将部分光束通过第一检测光聚焦透镜(61)反射至第一ccd模组(71);
所述第二光束采样镜(32)将部分光束通过第二检测光聚焦透镜(62)反射至第二ccd模组(72)。
5.根据权利要求1所述的一种激光光路检偏装置,其特征在于:所述光束采样镜(30)和所述ccd模组(70)之间设置有减光构件(80)。
6.根据权利要求5所述的一种激光光路检偏装置,其特征在于:所述减光构件(80)为衰减片,所述减光构件包括第一减光构件(81)和第二减光构件(82),分别设置于第一光束采样镜(31)和第二光束采样镜(32)的反射光路上。
7.根据权利要求1所述的一种激光光路检偏装置,其特征在于:所述光束采样镜(30)的反射率为0.5%~2%。
8.一种激光光路自动校正装置,其特征在于:采用如权利要求1-7任一项所述的激光光路检偏装置。
9.根据权利要求8所述激光光路自动校正装置,其特征在于:所述光路调整构件(20)上设置有驱动件,所述驱动件与所述ccd模组(70)采用通信连接。
10.根据权利要求9所述激光光路自动校正装置,其特征在于:第一ccd模组(71)和第二ccd模组(72)存在像素差。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于友芯(厦门)半导体设备有限公司,未经友芯(厦门)半导体设备有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202022613654.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。