[实用新型]一种激光光路检偏装置及自动校正装置有效

专利信息
申请号: 202022613654.5 申请日: 2020-11-12
公开(公告)号: CN213827594U 公开(公告)日: 2021-07-30
发明(设计)人: 黄汉杰;杨凌杰;付乐;杨伟林;张鑫;王灿 申请(专利权)人: 友芯(厦门)半导体设备有限公司
主分类号: B23K26/70 分类号: B23K26/70;G01M11/02;G01B11/27
代理公司: 厦门加减专利代理事务所(普通合伙) 35234 代理人: 李强
地址: 361101 福建省厦门市火炬高新区(*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 激光 光路检偏 装置 自动 校正
【权利要求书】:

1.一种激光光路检偏装置,其特征在于:包括激光器(10),光路调整构件(20)、光束采样镜(30)、聚焦物镜(40)、载物台(50)、检测光聚焦透镜(60)和ccd模组(70);

所述激光器(10)发射出的光束通过光路调整构件(20)依次经光束采样镜(30)和聚焦物镜(40)聚焦至载物台(50);

所述光路调整构件(20)和聚焦物镜(40)之间设置有至少两组光束采样镜(30),每组所述光束采样镜(30)将部分光束通过所述检测光聚焦透镜(60)反射至ccd模组(70)。

2.根据权利要求1所述的一种激光光路检偏装置,其特征在于:所述激光器(10)发射出的光束通过反射光路反射至光路调整构件(20);

所述反射光路至少包括一组反射镜(11)。

3.根据权利要求1所述的一种激光光路检偏装置,其特征在于:所述光路调整构件(20)包括依次设置的第一光路调整构件(21)、第二光路调整构件(22)。

4.根据权利要求1所述的一种激光光路检偏装置,其特征在于:所述光束采样镜(30)包括依次设置的第一光束采样镜(31)和第二光束采样镜(32);

所述第一光束采样镜(31)将部分光束通过第一检测光聚焦透镜(61)反射至第一ccd模组(71);

所述第二光束采样镜(32)将部分光束通过第二检测光聚焦透镜(62)反射至第二ccd模组(72)。

5.根据权利要求1所述的一种激光光路检偏装置,其特征在于:所述光束采样镜(30)和所述ccd模组(70)之间设置有减光构件(80)。

6.根据权利要求5所述的一种激光光路检偏装置,其特征在于:所述减光构件(80)为衰减片,所述减光构件包括第一减光构件(81)和第二减光构件(82),分别设置于第一光束采样镜(31)和第二光束采样镜(32)的反射光路上。

7.根据权利要求1所述的一种激光光路检偏装置,其特征在于:所述光束采样镜(30)的反射率为0.5%~2%。

8.一种激光光路自动校正装置,其特征在于:采用如权利要求1-7任一项所述的激光光路检偏装置。

9.根据权利要求8所述激光光路自动校正装置,其特征在于:所述光路调整构件(20)上设置有驱动件,所述驱动件与所述ccd模组(70)采用通信连接。

10.根据权利要求9所述激光光路自动校正装置,其特征在于:第一ccd模组(71)和第二ccd模组(72)存在像素差。

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