[实用新型]一种IC基板检测装置有效

专利信息
申请号: 202022642037.8 申请日: 2020-11-16
公开(公告)号: CN214003255U 公开(公告)日: 2021-08-20
发明(设计)人: 付满仓;沈乐 申请(专利权)人: 苏州信立盛电子有限公司
主分类号: B65G47/82 分类号: B65G47/82
代理公司: 无锡风创知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32461 代理人: 邱国栋
地址: 215000 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 ic 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种IC基板检测装置,包括检测台(1)、安装在检测台(1)顶部边沿处的固定台(3),以及设置在检测台(1)上方且位于固定台(3)下方的检测头,还包括用于推动待检测IC基板的推动结构,其特征在于,所述推动结构包括:

升降条(7),呈“L”形状的所述升降条(7)连接在升降盘(2)上,所述升降盘(2)设置在固定台(3)的正下方,所述升降盘(2)的顶端连接在固定台(3)上安装的气缸(11)输出端活塞杆的底端,所述检测头安装在升降盘(2)的下方,所述升降条(7)远离升降盘(2)的一端设置有推动条(8),所述推动条(8)的一条边倾斜于竖直方向设置;

多个移动盘(5),设置在所述检测台(1)的顶部,多个所述移动盘(5)之间通过连接条(10)连接,所述移动盘(5)的一个边角处连接有延伸条(9),其中:

所述检测台(1)顶端的两侧分别设置有显示灯(12)和功能键(13)。

2.根据权利要求1所述的一种IC基板检测装置,其特征在于,所述检测台(1)顶端设置有两条位于移动盘(5)两侧的滑轨(4),所述移动盘(5)设置在滑轨(4)上,所述延伸条(9)延伸处一侧的滑轨(4)设置。

3.根据权利要求1所述的一种IC基板检测装置,其特征在于,所述推动条(8)的一端设置在轴杆(14)上,所述轴杆(14)的一端连接在升降条(7)上。

4.根据权利要求1所述的一种IC基板检测装置,其特征在于,所述升降条(7)靠近推动条(8)的一端处设置有限位块(15),所述限位块(15)贴紧在推动条(8)的一侧。

5.根据权利要求4所述的一种IC基板检测装置,其特征在于,所述限位块(15)上嵌入有磁块(16),所述磁块(16)与限位块(15)之间对称设置,所述磁块(16)吸附在推动条(8)上。

6.根据权利要求1所述的一种IC基板检测装置,其特征在于,所述移动盘(5)的顶端开设有凹槽(6)。

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