[实用新型]一种IC基板检测装置

说明书

本实用新型涉及IC基板技术领域，公开了一种IC基板检测装置，包括检测台、安装在检测台顶部边沿处的固定台，以及设置在检测台上方且位于固定台下方的检测头，还包括用于推动待检测IC基板的推动结构；通过在带动检测头升降的升降盘上连接有升降条，升降条的一端设置有推动条，推动条的一条边倾斜于竖直方向设置，这样在升降盘下移带动检测头检测放置在工作台上的IC基板的同时，升降条带动推动条下移，通过推动条对放置IC基板的移动盘侧面处的挤压，来自动的推动着IC基板在检测台上移动到检测头的下方进行检测，检测效率更高，省时省力，并且移动盘之间通过连接条连接，在推动一个移动盘移动时，可同时带动多个移动盘进行移动。

技术领域

本实用新型涉及IC基板技术领域，具体是一种IC基板检测装置。

背景技术

IC基板是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、二极管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，从而使电子元件向着徼小型化、低功耗和高可靠性方面迈进了一大步；

IC基板在生产过程中，需要对其进行检测工作，需要使用到IC基板的检测装置，现有技术中的检测装置，是利用升降结构带动检测头按压到放置在检测台上的待检测的IC基板上进行检测；

现有技术中的IC基板在检测时，需要手动的将待检测的基板放置到检测台上，并且需要摆放好基板，使得检测头可精准的按压到基板上对其进行检测，在检测完一块基板后，又需要重新将新的基板放置到检测台进行检测，这样导致对基板的检测效率降低，费时费力。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种IC基板检测装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种IC基板检测装置，包括检测台、安装在检测台顶部边沿处的固定台，以及设置在检测台上方且位于固定台下方的检测头，还包括用于推动待检测IC基板的推动结构，推动结构包括：升降条，呈“L”形状的升降条连接在升降盘上，升降盘设置在固定台的正下方，升降盘的顶端连接在固定台上安装的气缸输出端活塞杆的底端，检测头安装在升降盘的下方，升降条远离升降盘的一端设置有推动条，推动条的一条边倾斜于竖直方向设置；多个移动盘，设置在检测台的顶部，多个移动盘之间通过连接条连接，移动盘的一个边角处连接有延伸条，其中：检测台顶端的两侧分别设置有显示灯和功能键。

作为本实用新型进一步的方案：检测台顶端设置有两条位于移动盘两侧的滑轨，移动盘设置在滑轨上，延伸条延伸处一侧的滑轨设置。

作为本实用新型再进一步的方案：推动条的一端设置在轴杆上，轴杆的一端连接在升降条上。

作为本实用新型再进一步的方案：升降条靠近推动条的一端处设置有限位块，限位块贴紧在推动条的一侧。

作为本实用新型再进一步的方案：限位块上嵌入有磁块，磁块与限位块之间对称设置，磁块吸附在推动条上。

作为本实用新型再进一步的方案：移动盘的顶端开设有凹槽。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：通过在带动检测头升降的升降盘上连接有升降条，升降条的一端设置有推动条，推动条的一条边倾斜于竖直方向设置，这样在升降盘下移带动检测头检测放置在工作台上的IC基板的同时，升降条带动推动条下移，通过推动条对放置IC基板的移动盘侧面处的挤压，来自动的推动着IC基板在检测台上移动到检测头的下方进行检测，检测效率更高，省时省力，并且移动盘之间通过连接条连接，在推动一个移动盘移动时，可同时带动多个移动盘进行移动。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型A处的结构放大图。