[实用新型]一种用于三极管的芯片上料装置有效
申请号: | 202022702855.2 | 申请日: | 2020-11-20 |
公开(公告)号: | CN213936146U | 公开(公告)日: | 2021-08-10 |
发明(设计)人: | 钟平权 | 申请(专利权)人: | 东莞市通科电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/677 | 分类号: | H01L21/677;H01L29/70 |
代理公司: | 东莞科强知识产权代理事务所(普通合伙) 44450 | 代理人: | 肖冬 |
地址: | 523000 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 三极管 芯片 装置 | ||
本实用新型涉及三极管生产加工技术领域,尤其为一种用于三极管的芯片上料装置,包括支撑台,所述支撑台的顶部正上方位置设置有支撑机架,且支撑机架的顶部中端位置固定安装有加工组件,所述支撑台的顶部中端位置安置有加工面板,本实用新型中,通过设置的液压组件、取料框、衔接横板、红外测距传感器、控制终端和液压组件,结合红外测距传感器检测到单个芯片的临近时,在控制终端的连接配合下,经过5s后的液压组件将会在启动后,在取料框的连接配合下,通过衔接横板来将单个芯片快速向上顶出,后期进行单个的芯片的取料操作将会更加便捷,整个取料操作整个省力、安全的同时,也避免人体因传送机构的快速转动受到碰伤。
技术领域
本实用新型涉及三极管生产加工技术领域,具体为一种用于三极管的芯片上料装置。
背景技术
三极管,全称应为半导体三极管,也称双极型晶体管、晶体三极管,是一种控制电流的半导体器件,其作用是把微弱信号放大成幅度值较大的电信号,也用作无触点开关,三极管是半导体基本元器件之一,具有电流放大作用,是电子电路的核心元件,在对三极管内的芯片进行内置装配时,需要借助上料装置来进行辅助。
市面上的上料装置在工作时,需要人工的方式来将单个芯片取下,整个取料操作十分繁琐,不够便捷,并且在放置多个芯片时,未受到限位作用的芯片极其容易发生掉落的现象。
发明内容
本实用新型的目的在于提供一种用于三极管的芯片上料装置,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:
一种用于三极管的芯片上料装置,包括支撑台,所述支撑台的顶部正上方位置设置有支撑机架,且支撑机架的顶部中端位置固定安装有加工组件,所述支撑台的顶部中端位置安置有加工面板,且加工面板的一侧位置设置有取料框,所述支撑台的正面中部位置通过一次性切削加工开设有开口槽,且支撑台的内部一侧位置设置有左传送带,且支撑台的内部另一侧位置设置有右传送带,所述右传送带和左传送带之间的夹缝处位置设置有衔接横板,且衔接横板的中部位置安置有芯片本体,所述衔接横板的两侧位置固定有挡块,且衔接横板的底部位置连接有液压组件,所述支撑台的内部右上方位置固定安装有红外测距传感器,所述支撑机架的底部一侧位置固定有控制终端,所述左传送带的正面中部位置设置有左垫块,所述右传送带的正面中部位置粘结有右垫块。
优选的,所述支撑台的顶端和支撑机架的底部之间螺栓固定,且支撑机架的外形呈“U”形结构分布设置。
优选的,所述取料框的内部呈中空结构设置于加工面板的一侧位置,且取料框的内部通过中空腔道和支撑台的内部相接通,所述取料框的竖向中轴线和液压组件的竖向中轴线之间共线设置。
优选的,所述左传送带、右传送带分别通过活动连接件及板材构件和支撑台活动连接,且左传送带与右传送带之间的间距值小于芯片本体的宽度值,所述芯片本体的底面和衔接横板的顶面之间相互贴合,所述支撑台通过中空腔道和液压组件穿插连接,且液压组件的接线端、红外测距传感器的接线端分别和控制终端的接线端之间电性连接。
优选的,所述右垫块和左垫块均为橡胶材质,且左垫块的后端面和左传送带的正面之间粘结连接。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
1、本实用新型中,通过设置的取料框、衔接横板、红外测距传感器、控制终端和液压组件,结合红外测距传感器检测到单个芯片的临近时,在控制终端的连接配合下,经过5s后的液压组件将会在启动后,在取料框的连接配合下,通过衔接横板来将单个芯片快速向上顶出,后期进行单个的芯片的取料操作将会更加便捷,整个取料操作整个省力、安全的同时,也避免人体因传送机构的快速转动受到碰伤;
2、本实用新型中,通过设置的右垫块、左垫块、左传送带和右传送带,结合在左传送带和右传送带的连接配合下,该上料结构可将右垫块和左垫块作为一左右限位构件,可对单个芯片的安置进行限位处理,减少芯片在进行传输上料操作过程中出现掉落现象的次数。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造