[实用新型]一种抬升机构抬升控制及测试设备有效

专利信息
申请号: 202022712519.6 申请日: 2020-11-22
公开(公告)号: CN213422257U 公开(公告)日: 2021-06-11
发明(设计)人: 许英;姜永强;倪启明 申请(专利权)人: 上海镭隆科技发展有限公司
主分类号: G01D21/02 分类号: G01D21/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201612 上海市松江*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 抬升 机构 控制 测试 设备
【说明书】:

本实用新型公开了一种抬升机构抬升控制及测试设备,包括测试机体,所述测试机体的前侧安装有前面板,测试机体的后侧安装有后面板,测试机体的左侧加装有左侧板,测试机体的右侧加装有右侧板,测试机体的顶端加装有上盖;所述测试机体的内部加装有嵌入式主板,嵌入式主板上集成有上位机、主供电电源和下位机。本抬升机构抬升控制及测试设备,抬升控制测试设备功能如下:提供抬升机构电加热片的供电,并能实现对热敏电阻温度的实时检测;实现抬升机构抬升与收拢;实现电机运转工况的实时检测与显示;检测抬升机构收拢和展开位置状态,测试抬升时间。

技术领域

本实用新型涉及抬升机构技术领域,具体为一种抬升机构抬升控制及测试设备。

背景技术

抬升机构抬升控制测试设备是用于抬升机构抬升控制、时间、直流有刷电机工作状态参数的测试、电机温度的采集及控制,现有的设备无法做到对热敏电阻温度的实时检测,电机运转的工况不便实时检测与现实,不能够实时检测到抬升机构收拢与展开位置状态,基于上述存在的缺陷,提出一种抬升机构抬升控制及测试设备。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种抬升机构抬升控制及测试设备,实现对热敏电阻温度的实时检测,实现抬升机构抬升与收拢,电机运转工况可实时检测与显示,可实时检测抬升机构收拢和展开位置状态,以及测试抬升时间,解决了现有技术中的问题。

为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种抬升机构抬升控制及测试设备,包括测试机体,所述测试机体的前侧安装有前面板,测试机体的后侧安装有后面板,测试机体的左侧加装有左侧板,测试机体的右侧加装有右侧板,测试机体的顶端加装有上盖;所述测试机体的内部加装有嵌入式主板,嵌入式主板上集成有上位机、主供电电源和下位机,主供电电源接AC220V电源输入,主供电电源输出28V直流电为下位机供电,主供电电源输出12V直流电为上位机供电,下位机与上位机通过以太网通讯。

优选的,所述下位机集成有核心处理模块、电机控制模块、加热片控制模块、电机电压采样调理模块、电机电流采样调理模块、温度采样调理模块、AD采样模块、抬升位置检测模块、故障指示模块、急停开关输入模块和供电电源模块,供电电源模块的输入端接主供电电源输入电源,供电电源模块的输出端连接到核心处理模块供电,核心处理模块与AD采样模块互联,核心处理模块的信号输入端连接到抬升位置检测模块的输出端以及连接到急停开关输入模块的输出端,核心处理模块的输出端连接到加热片控制模块、电机控制模块以及故障指示模块的输出端,电机控制模块的输出端连接到电机电压采样调理模块以及电机电流采样调理模块的输入端,电机电压采样调理模块和电机电流采样调理模块的输出端均连接到温度采样调理模块的输入端。

优选的,所述核心处理模块采用32位高速芯片,具有单指令DSP和浮点单元功能。

优选的,所述电机控制模块采用继电器控制,电机的绕组供电使能以及绕组供电方向均由继电器切换控制。

优选的,所述加热片控制模块外接加热片的电压为28V±0.6V,功率6W,采用PMOS管进行供电控制。

优选的,所述AD采样模块采用独立AD芯片AD7606,实现4通道AD采样。

优选的,所述抬升位置检测模块的抬升位置信号由抬升机构上的微动开关产生,在抬升开始和抬升结束位置各有两个微动开关,互为备份。

与现有技术相比,本实用新型的有益效果如下:

本抬升机构抬升控制及测试设备,抬升控制测试设备功能如下:

1、可为抬升机构电加热片供电的同时,实现对热敏电阻温度的实时检测;

2、实现抬升机构抬升与收拢;

3、实现电机运转工况的实时检测与显示;

4、检测抬升机构收拢和展开位置状态,测试抬升时间。

附图说明

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