[实用新型]一种半导体设备ALD氮化钛装置喷头旋转打磨治具有效

专利信息
申请号: 202022868421.X 申请日: 2020-12-03
公开(公告)号: CN214265162U 公开(公告)日: 2021-09-24
发明(设计)人: 王云鹏;贺贤汉;周毅;蒋立峰 申请(专利权)人: 上海富乐德智能科技发展有限公司
主分类号: B24B41/06 分类号: B24B41/06;C23C16/455
代理公司: 上海申浩律师事务所 31280 代理人: 赵建敏
地址: 200444 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体设备 ald 氮化 装置 喷头 旋转 打磨
【权利要求书】:

1.一种半导体设备ALD氮化钛装置喷头旋转打磨治具,所述半导体设备ALD氮化钛装置喷头呈盆状,盆状喷头包括中间的铝材圆柱(11),底部的铝材底(12)和顶部的铝材边沿(13),所述铝材底(12)上开设有多个出水孔(14);

其特征在于:所述旋转打磨治具呈杯状,杯状治具包括治具底面(5)和治具圆周面(1);

所述治具底面(5)上开设有用于安装在旋转台上的沉头孔(7)以及用于排除积水的漏水孔(4);且所述治具底面(5)为第一台阶面,当盆状喷头的铝材底(12)朝下铝材边沿(13)朝上放置时,铝材底(12)底面与第一台阶面贴合放置;

所述治具圆周面(1)中间沿径向朝向外侧凹陷形成有第二台阶面(6),所述第二台阶面(6)的外径等于铝材边沿(13)的外径,第二台阶面(6)的内径大于铝材圆柱(11)的外径;当盆状喷头的铝材底(12)朝上铝材边沿(13)朝下放置时,铝材边沿(13)表面与第二台阶面(6)贴合放置;

所述第二台阶面(6)上方的圆周面内表面沿周向均匀设置有多个定位凸起(3),所述盆状喷头的铝材边沿(13)外表面与多个定位凸起(3)一一对应的设置有多个定位凹槽(15)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体设备ALD氮化钛装置喷头旋转打磨治具,其特征在于:所述治具圆周面(1)上对称的开设有2个取放开口槽(2)。

3.根据权利要求1所述的一种半导体设备ALD氮化钛装置喷头旋转打磨治具,其特征在于:所述沉头孔(7)有4个,均匀的设置于治具底面(5)上。

4.根据权利要求3所述的一种半导体设备ALD氮化钛装置喷头旋转打磨治具,其特征在于:所述4个沉头孔位于与治具底面(5)外圆周同心的第一圆上。

5.根据权利要求4所述的一种半导体设备ALD氮化钛装置喷头旋转打磨治具,其特征在于:所述第一圆的半径为治具底面(5)外圆周半径的三分之一。

6.根据权利要求1所述的一种半导体设备ALD氮化钛装置喷头旋转打磨治具,其特征在于:所述漏水孔(4)有8个,均匀的设置于治具底面(5)上。

7.根据权利要求6所述的一种半导体设备ALD氮化钛装置喷头旋转打磨治具,其特征在于:所述8个沉头孔位于与治具底面(5)外圆周同心的第二圆上。

8.根据权利要求7所述的一种半导体设备ALD氮化钛装置喷头旋转打磨治具,其特征在于:所述第二圆的半径为治具底面(5)外圆周半径的三分之二。

9.根据权利要求1所述的一种半导体设备ALD氮化钛装置喷头旋转打磨治具,其特征在于:所述定位凸起(3)有4个,均匀的设置于第二台阶面(6)上方的圆周面内表面上。

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