[实用新型]基于单片机和FPGA设计的时统测试仪

说明书

本实用新型公开了一种基于单片机和FPGA设计的时统测试仪，本测试仪包括外壳；外壳内部设有电源模块和控制器，外壳上设有电源开关、电源插口、输入输出接口、通讯接口、显示控制面板,其与控制器连接；电源模块用于测试仪的供电；控制器包括单片机和FPGA，单片机用于测试仪的内部控制和与外部设备的通讯；用来产生发送的时统信号、对接收的时统信号频率进行测量和控制时统输入显示；输入输出接口提供时统信号的输入输出通道；通讯接口用于与其他设备通信进行联合测试；显示控制面板用于多路时统信号输入显示以及通道控制开关的操作。本测试仪能有效提高批量时统设备测试的效率和测试的标准化程度。

技术领域

本实用新型涉及测试领域，具体涉及到一种基于单片机和FPGA设计的时统测试仪。

背景技术

时统设备发送和接收外部时统信号，为各个系统提供统一的时间基准，因此时统设备是各计算机系统能够协同工作的重要设备。在计算机系统的调试过程中，时统测试是重要的测试项目，但是当前市场上没有专用的时统测试设备，一般时统测试使用信号发生器产生周期脉冲作为时统信号，只能输出一路，测试效率低，且测试设备比较笨重。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种基于单片机和FPGA设计的时统测试仪，最大限度的满足时统设备批量测试的需求，同时提高时统设备测试的效率和标准化程度，提高计算机系统生产的效率。

实现本实用新型目的的技术方案为：一种基于单片机和FPGA设计的时统测试仪，包括外壳；外壳内部设有电源模块和控制器，外壳上设有电源开关、电源插口、输入输出接口、通讯接口和显示控制面板，其与控制器连接；其中：

电源模块用于测试仪的供电；

电源开关、电源插口用于电源模块的控制以及连通外部电源；

控制器包括单片机和FPGA，单片机用于测试仪的内部控制和与外部设备的通讯；用来产生发送的时统信号、对接收的时统信号频率进行测量和控制时统输入显示；

输入输出接口提供时统信号的输入输出通道；

通讯接口用于与其他设备通信进行联合测试；

显示控制面板用于多路时统信号输入显示以及通道控制开关的操作。

进一步的，所述单片机采用AT89S52单片机，FPGA采用EP2C5Q208I8NFPGA。

进一步的，所述输入输出接口采用标准422输入输出接口，并采用标准的DB9连接器与内部连接。

进一步的，所述输入输出接口的输入输出时统信号包括12路独立的标准422电平秒脉冲输出、12路独立的标准422电平的20mS脉冲输出和12路标准422电平时统输入。

进一步的，所述422电平输入输出芯片采用带有lookback模式LTC1334芯片。

进一步的，所述测试仪采用220V交流供电，电源模块采用JSC20-A2S05，将220V交流电转换为5V直流电提供给控制器。

进一步的，所述电源模块还包括磁隔离器件进行磁隔离保护供电，磁隔离器件采用ADUM2400。

进一步的，所述通信接口采用RS232串接口，外接一片max232芯片，与其他测试设备通讯，进行联合测试。

进一步的，所述显示控制面板包括4个7端数码管和12个通道选通开关。

进一步的，所述外壳体积为360mm*205mm*59mm，外壳表面还设有测试仪工作状态指示灯和使用说明书。