[实用新型]一种适用于不同尺寸晶片的预对准装置有效

专利信息
申请号: 202022912747.8 申请日: 2020-12-08
公开(公告)号: CN213660373U 公开(公告)日: 2021-07-09
发明(设计)人: 刘胜男 申请(专利权)人: 深圳科鑫泰电子有限公司
主分类号: H01L21/68 分类号: H01L21/68;H01L21/683;H01L21/67
代理公司: 深圳市千纳专利代理有限公司 44218 代理人: 黄良宝
地址: 518000 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 适用于 不同 尺寸 晶片 对准 装置
【说明书】:

一种适用于不同尺寸晶片的预对准装置,涉晶片制造技术领域,解决现有晶片预对准装置不能适用于不同尺寸晶片的技术不足,采用的技术手段包括:载台、十字形托臂、第一步进电机、真空吸盘、第二步进电机、硅胶辊、十字形滑轨、支架、图像采集模块和数据处理模块,真空吸盘连接在第一步进电机上,并随其在载台的中轴线上同步上下移动以在载台上表面上伸缩;第二步进电机分处于十字形托臂的端部并与转动处于十字形托臂上的硅胶辊连接。本实用新型的有益效果在于:支架可在十字形滑轨的滑道上在十字形托臂相邻两托臂间经向移动,以自由调节支架上的图像采集模块位置,使其能够完整采集到置于十字形托臂上的晶片边缘图像,提高了本实用新型的适用性。

技术领域

本实用新型涉及晶片制造技术领域,更具体的涉及一种适用于不同尺寸晶片的预对准装置。

背景技术

在晶片进行缺陷扫描及电特性测试等步骤前,需要对晶片进行精准定位及预对准。目前常用的方法是在晶片上设置对准标记,通过对对准标记的扫描识别,实现晶片的对准。

但是,现有晶片预对准装置其用于扫描及采集晶片对准标记的图像采集模块设置在一固定的支架上,其位置不能自由调节。因此,图像采集模块在对晶片进行扫描识别时,只能扫描识别出特定区域内的晶片位置图像,一旦改变了晶片的尺寸,则图像采集模块不能完全扫描并识别晶片,导致晶片定位不准确,影响后续检测步骤的顺利进行。

实用新型内容

综上所述,本实用新型的目的在于解决现有晶片预对准装置不能适用于不同尺寸晶片扫描、对准的技术不足,而提供一种适用于不同尺寸晶片的预对准装置。

为实现上述目的,本实用新型采用了下述技术方案:

一种适用于不同尺寸晶片的预对准装置,包括有载台,所述载台上部设有十字形托臂,所述十字形托臂的中轴线位置上滑动设有一可轴向移动的第一步进电机,所述第一步进电机的竖直转轴上连接有一用于吸附晶片的真空吸盘,所述真空吸盘随第一步进电机同步上下移动以在十字形托臂的表面进行上下伸缩,并在第一步进电机的驱动下水平转动。十字形托臂的四个托臂端部分别纵向设有一第二步进电机,所述每个第二步进电机的转动轴上分别连接有一转动处于各托臂纵向轴线上的、用于承托并移动晶片的硅胶辊,所述硅胶辊的上部凸出于十字形托臂的上表面且低于真空吸盘向上移动的最高点。载台的下部水平设有与十字形托臂呈45°角的十字形滑轨,所述十字形滑轨的四条滑道上分别滑动连接有一在相邻两托臂间径向移动的支架,所述每个支架上皆设有用于获取晶片图像信息的图像采集模块,所述装置还包括有与所述图像采集模块耦接的数据处理模块,所述数据处理模块接收图像采集模块的数据信息,将其与预先设置的标准数据值进行比对得出偏差量,根据偏差量计算得出第一步进电机及第二步进电机各转动轴的角位移量,并按照得出的角位移量控制各步进电机转动以移动晶片,使其精确对准。

所述载台的中轴线位置上设有竖直滑槽,所述竖直滑槽的底部设有一竖直向上设置的第一气缸,所述第一气缸的活塞杆首端部固定连接在所述第一步进电机底面的中部,竖直滑槽的上部开口处于所述十字形托臂上表面的中部,所述真空吸盘的外周直径与竖直滑槽上部开口的孔径相匹配。

所述载台下部的中轴线位置上设有一水平转动的双层齿轮座,相互对应的两个所述的支架下部水平设有对应啮合于所述双层齿轮座同一层齿轮两侧的齿条,相对应的两个支架通过所述的齿条及双层齿轮同步相向或背向移动。

所述十字形滑轨的其中一条滑道端部纵向设有一第二气缸,所述第二气缸的活塞杆伸向十字形滑轨的中部,其上活动设有一位置可调节的紧固件,所述的紧固件与同一滑道上的支架连接。

所述十字形滑轨的每条滑道外表面上皆划设有刻度。

所述的图像采集模块包括有用于向晶片边缘部发射光线的发光单元,用于获取光线并转化为模拟信号的CCD线性传感器,以及用于将所述CCD传感器的模拟信号转化为数字信号并传授给所述数据处理模块处理的模数转换单元。

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