[实用新型]芯片间距调整模组及上下料机构

说明书

本实用新型公开了一种芯片间距调整模组，包括设置有直线导轨的固定板，沿着直线导轨滑动的移动吸嘴组件，滑动连接于固定板的导向板，以及用于带动导向板沿着滑动方向移动的驱动组件，导向板可抵压移动吸嘴组件沿着直线导轨滑动的导向槽。驱动组件连接于固定板，在动作时带动导向板沿着滑动方向移动，导向板开设有间距由小变大的导向槽，导向槽可抵压移动吸嘴组件，带动移动吸嘴组件移动，而移动吸嘴组件连接于固定板，被限制沿着直线导轨滑动，在导向板的驱动下沿着直线导轨方向实现间距的增大或缩小调整，从而支持移动吸嘴组件吸附料盘与测试板两者以不同间距大小放置的芯片，实现多个芯片的同时上料或下料，极大提升上下料效率。

技术领域

本实用新型涉及芯片检测领域，更具体地说，它涉及一种芯片间距调整模组及上下料机构。

背景技术

老化测试项目是指模拟产品在现实使用条件中涉及到的各种因素对产品产生老化的情况进行相应条件加强实验的过程。

一般来说，电子器件，无论是原件、部件、零件、整机等都需要进行老化测试。老化测试在工序上是先老化后测试。电子器件在使用后，比如十几个小时、一个月、一年、三年后可能会发现多种毛病，这些毛病如果没有经过一定的老化设置在测试中是检测不出来的。因此，为了避免电子产品在后续使用中可能出现的这些问题，国内或国外不少标准规定在电子电器检测中必须进行老化测试。老化测试由生产厂家或一流的电子电器检测技术公司来完成，其通过测试发现产品存在的问题并且及时修改，让到达消费者手中产品的问题尽量少或提高产品可靠性。

芯片在老化测试时需要进行上料和下料，由于料盘与测试板放置芯片的间距不一致，目前采用的上料方法是利用吸嘴逐一的吸取芯片进行上料或下料，上料和下料速度慢效率低。

有鉴于此，本实用新型的发明人为了解决上述问题，而深入构思，且积极研究改良试做而开发设计出本实用新型。

实用新型内容

针对现有技术存在的不足，本实用新型的第一目的在于提供一种芯片间距调整模组，具有支持多组芯片同时上料或下料的优点。

为实现上述目的，本实用新型提供了如下技术方案：

一种芯片间距调整模组，包括

固定板，设置有直线导轨；

移动吸嘴组件，连接于固定板，并沿着直线导轨滑动；

导向板，滑动连接于固定板，开设有间距由小变大，可抵压移动吸嘴组件沿着直线导轨滑动的导向槽；

驱动组件，连接于固定板，用于带动导向板沿着滑动方向移动。

采用上述技术方案，驱动组件连接于固定板，在动作时带动导向板沿着滑动方向移动，导向板开设有间距由小变大的导向槽，导向槽可抵压移动吸嘴组件，带动移动吸嘴组件移动，而移动吸嘴组件连接于固定板，被限制沿着固定板上的直线导轨滑动，在导向板的驱动下沿着直线导轨方向实现间距的增大或缩小调整，从而支持移动吸嘴组件吸附料盘与测试板两者以不同间距大小放置的芯片，实现多个芯片的同时上料或下料，极大提升上下料效率。

进一步，所述移动吸嘴组件包括

移动支架，与固定板滑动连接；

导向件，连接于移动支架，延伸进入导向槽；

吸嘴气缸，连接于移动支架，用于吸附芯片。

进一步，所述导向槽之间的间距等距离变化。

进一步，所述驱动组件包括

丝杆，转动连接于固定板；

丝杆螺母，与丝杆配合，带动导向板在固定板上滑动；

动力源，驱动丝杆转动。

进一步，所述动力源为伺服电机。