[实用新型]芯片自动上下料设备

说明书

本实用新型公开了一种芯片自动上下料设备，包括机架，还包括滑轨，与滑轨滑动连接的滑动底座，驱动滑动底座沿着滑轨滑动的滑动驱动机构，连接于滑动底座的升降轨，与升降轨滑动连接的升降底座，升降底座沿着升降轨升降的升降驱动机构，以及连接于升降底座，用于吸附芯片并带动芯片移动的吸嘴气缸。在进行芯片的上下料时，升降驱动机构带动升降底座下降，在靠近料盘时，吸嘴组件先将料盘内放置的芯片吸起，之后升降驱动机构升起，滑动驱动机构驱动移动底座沿着滑轨向暂存芯片的中转台移动，之后升降驱动机构再次将升降底座降低，吸嘴气缸停止吸附芯片，进而将芯片放置于中转台，整个过程自动完成，替代手工作业，上下料的效率提升明显。

技术领域

本实用新型涉及芯片检测领域，更具体地说，它涉及一种芯片自动上下料设备。

背景技术

老化测试项目是指模拟产品在现实使用条件中涉及到的各种因素对产品产生老化的情况进行相应条件加强实验的过程。

一般来说，电子器件，无论是原件、部件、零件、整机等都需要进行老化测试。老化测试在工序上是先老化后测试。电子器件在使用后，比如十几个小时、一个月、一年、三年后可能会发现多种毛病，这些毛病如果没有经过一定的老化设置在测试中是检测不出来的。因此，为了避免电子产品在后续使用中可能出现的这些问题，国内或国外不少标准规定在电子电器检测中必须进行老化测试。老化测试由生产厂家或一流的电子电器检测技术公司来完成，其通过测试发现产品存在的问题并且及时修改，让到达消费者手中产品的问题尽量少或提高产品可靠性。

芯片在老化测试时需要进行上料和下料，目前，很多设备需要通过人工将料盘中的芯片手动的放置到输送轨道，由于测试新品数量多，所以工作量非常大。有鉴于此，本实用新型的实用新型人为了解决上述问题，而深入构思，且积极研究改良试做而开发设计出本实用新型。

实用新型内容

针对现有技术存在的不足，本实用新型的目的在于提供一种芯片自动上下料设备，具有在芯片上料或下料时效率高的优点。

为实现上述目的，本实用新型提供了如下技术方案：

一种芯片自动上下料设备，其特征在于：包括机架，还包括

滑轨，连接于机架；

滑动底座，与滑轨滑动连接；

滑动驱动机构，连接于机架，驱动滑动底座沿着滑轨滑动；

升降轨，连接于滑动底座；

升降底座，与升降轨滑动连接；

升降驱动机构，连接于滑动底座，驱动升降底座沿着升降轨升降；

吸嘴气缸，连接于升降底座，用于吸附芯片并带动芯片移动。

采用上述技术方案，在进行上料时，升降驱动机构带动升降底座下降，在靠近料盘时，吸嘴组件先将料盘内放置的芯片吸起，之后升降驱动机构升起，滑动驱动机构驱动移动底座沿着滑轨向暂存芯片的中转台移动，之后升降驱动机构再次将升降底座降低，吸嘴气缸停止吸附芯片，进而将芯片放置于中转台，此外，相反的过程，在回程时将中转台放置的已经测试完成的芯片运送回料盘，整个上下料过程自动完成，替代手工作业，效率提升明显。

进一步，所述滑动驱动机构包括

皮带组件，转动连接于机架，并与滑动底座连接，带动滑动底座移动；

动力源，用于驱动皮带组件转动。

进一步，所述动力源包括步进电机。

进一步，所述升降驱动机构包括

丝杆，转动连接于滑动底座；

丝杆螺母，与丝杆连接，并与升降底座连接；

驱动部，用于驱动丝杆转动。