[实用新型]一种测试结构及显示面板

权利要求书

1.一种测试结构，其特征在于，包括：

多条测试走线，所述测试走线用于接收至少一条待测试信号线上的信号；

多个开关单元，所述开关单元与所述测试走线一对一连通，相邻的两个所述开关单元连通，所述开关单元用于控制待测试信号线与测试走线连通；以及

控制单元，与其中一个所述开关单元连通，用于控制多个所述开关单元各自导通以将待测试信号线上的信号导入到相应的测试走线。

2.如权利要求1所述的测试结构，其特征在于，所述开关单元为薄膜晶体管开关。

3.如权利要求1所述的测试结构，其特征在于，所述开关单元用于将所述测试走线分隔成两段。

4.如权利要求3所述的测试结构，其特征在于，所述开关单元包括：

栅极；

源漏区，设置于所述栅极上，包括源极、漏极以及半导体层，所述半导体层位于源极和漏极之间，所述源极和漏极分别连接于两段所述测试走线之间；以及

栅极绝缘层，用于分隔所述源漏区和所述栅极。

5.如权利要求4所述的测试结构，其特征在于，相邻的两个所述开关单元的栅极连接。

6.如权利要求4所述的测试结构，其特征在于，所述测试走线包括第一段和第二段，所述开关单元位于所述第一段和所述第二段之间，所述第一段的靠近所述开关单元的一端与所述源极连通；所述第二段的靠近所述开关单元的一端与所述漏极连通。

7.如权利要求6所述的测试结构，其特征在于，所述测试结构还包括：

第一测试端子，与所述第一段的远离所述开关单元的一端连通；以及

第二测试端子，与所述第二段的远离所述开关单元的一端连通。

8.如权利要求7所述的测试结构，其特征在于，所述第一测试端子与外部装置相连，所述第二测试端子与待测试信号线相连，所述外部装置通过所述第一测试端子接收所述测试走线输出的信号以对对应的待测试信号线进行测试，且所述外部装置通过所述第二测试端子施加外部信号于所述待测试信号线。

9.如权利要求1至8任一项所述的测试结构，其特征在于，所述控制单元为无门极驱动电路开关端子。

10.一种显示面板，其特征在于，包括如权利要求1至9任一项所述的测试结构。