[实用新型]一种测试结构及显示面板

说明书

本申请适用于液晶显示技术领域，提供了一种测试结构及显示面板，测试结构包括多条测试走线、多个开关单元以及控制单元。测试走线用于接收待测试信号线的信号；开关单元与测试走线一对一连通，相邻的两个开关单元对应连通，所述开关单元用于控制待测试信号线与测试走线连通；控制单元与其中一个开关单元连通，用于控制多个所述开关单元导通。本申请的测试结构，通过将相邻的两个开关单元连通，其中一个开关单元与控制单元连通，以用于对多个开关单元进行控制，并通过控制开关单元导通以将对应的待测试信号线上的信号导入到相应的测试走线中，当测试完成后，只需要将控制单元激光切割掉即可，提高了切割效率。

技术领域

本申请属于液晶显示技术领域，特别涉及一种测试结构及显示面板。

背景技术

无门极驱动电路技术(GDL，Gate driver less)是将门极驱动的线路设计在玻璃基板上，在液晶面板制作过程中需要对面板内部的走线进行测试，主要是外加信号进行测试。其中，数据信号和门极驱动信号均需要外加信号进行测试，在测试完成后，外加信号的位置需要采用激光切割的方式断开，避免液晶面板制作完成后其显示受到影响。

数据测试短棒(data shorting bar)是面板测试时数据信号的传输走线，它是将所有面内的数据信号走线短接在一起。GDL测试走线是面板测试时门极驱动信号的传输走线，该GDL测试走线是通过绑定连接导线与被测试信号连接，即每一个被测试信号对应一条GDL测试走线。当测试完成后，激光切割的路径需要经过每一条GDL测试走线，从而使得激光切割的路径要走很长，花费时间较长。

发明内容

本申请的目的在于提供一种测试结构及显示面板，旨在解决现有的测试结构中的测试走线通过绑定连接导线连接，使得激光切割的路径较长的技术问题。

本申请是这样实现的，一种主板接地连接结构，包括：

多条测试走线，所述测试走线用于接收至少一条待测试信号线上的信号；

多个开关单元，所述开关单元与所述测试走线一对一连通，相邻的两个所述开关单元连通，所述开关单元用于控制待测试信号线与测试走线连通；以及

控制单元，与其中一个所述开关单元连通，用于控制多个所述开关单元各自导通以将待测试信号线上的信号导入到相应的测试走线。

本申请提供的测试结构的有益效果在于：与现有技术相比，通过将相邻的两个开关单元对应连通，其中一个开关单元与控制单元连通，该控制单元可以对多个开关单元进行控制，并通过控制开关单元各自导通以将待测试信号线上的信号导入到相应的测试走线中，当测试完成后，只需要将控制单元激光切割掉即可，不需要切割多个测试走线，开关单元也无需被打开，解决了现有的测试结构中的测试走线通过绑定连接导线连接，使得激光切割的路径较长的技术问题，提高了切割效率。

在一个实施例中，所述开关单元为薄膜晶体管开关。

在一个实施例中，所述开关单元用于将所述测试走线分隔成两段。

在一个实施例中，所述开关单元包括：

所述开关单元包括：

栅极；

源漏区，设置于所述栅极上，包括源极、漏极以及半导体层，所述半导体层位于源极和漏极之间，所述源极和漏极分别连接于两段所述测试走线之间；以及

栅极绝缘层，用于分隔所述源漏区和所述栅极。在一个实施例中，相邻的两个所述开关单元的栅极连接。

在一个实施例中，所述测试走线包括第一段和第二段，所述开关单元位于所述第一段和所述第二段之间，所述第一段的靠近所述开关单元的一端与所述源极连通；所述第二段的靠近所述开关单元的一端与所述漏极连通。

在一个实施例中，所述测试结构还包括：