[实用新型]一种半导体用具有气场均匀的高温气相沉积炉有效
申请号: | 202023071134.2 | 申请日: | 2020-12-18 |
公开(公告)号: | CN214529233U | 公开(公告)日: | 2021-10-29 |
发明(设计)人: | 王敏;唐蓉;吴汉涛;孙珏 | 申请(专利权)人: | 无锡恒大电子科技有限公司 |
主分类号: | C23C16/44 | 分类号: | C23C16/44;H01L21/205 |
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地址: | 214000 江苏省无锡市建*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体 用具 有气 均匀 高温 沉积 | ||
1.一种半导体用具有气场均匀的高温气相沉积炉,包括气相沉积炉壳(1),其特征在于:所述气相沉积炉壳(1)的底部焊接安装有气相沉积炉底座(2),气相沉积炉壳(1)顶部安装有橡胶圈(3),所述橡胶圈(3)的内部开设有位于气相沉积炉壳(1)内部的气相沉积炉内胆(4),所述气相沉积炉内胆(4)的顶部开设有炉盖卡接槽(5),所述炉盖卡接槽(5)的一侧焊接安装有位于气相沉积炉壳(1)外表面的搭扣(6),所述搭扣(6)的顶部活动安装有固定环(7),所述固定环(7)的顶部可拆卸安装有沉积炉盖(8),所述沉积炉盖(8)的顶部焊接安装有连接管(9),所述连接管(9)的一侧焊接安装有真空泵(10),所述真空泵(10)的顶部开设有排气孔(11),所述排气孔(11)的一侧焊接安装有位于沉积炉盖(8)外表面的固定凹块(12),所述固定凹块(12)的底部焊接安装有位于沉积炉盖(8)底部的卡接环(13),所述卡接环(13)的底部焊接安装有位于沉积炉盖(8)底部的抽风管(14),所述抽风管(14)的底部焊接安装有抽气蓬头(15),所述抽气蓬头(15)的底部开设有抽气孔(16)。
2.根据权利要求1所述的一种半导体用具有气场均匀的高温气相沉积炉,其特征在于:所述气相沉积炉壳(1)安装在气相沉积炉底座(2)的顶部,且两侧焊接安装不可分开,气相沉积炉壳(1)的顶部与沉积炉盖(8)连接处、气相沉积炉壳(1)的开口处设有橡胶圈(3)。
3.根据权利要求1所述的一种半导体用具有气场均匀的高温气相沉积炉,其特征在于:所述搭扣(6)安装在气相沉积炉壳(1)的顶部四周,共安装有四个,且每个搭扣(6)都由搭扣(6)和固定环(7)组成,固定环(7)与沉积炉盖(8)四周安装的固定凹块(12)相吻合。
4.根据权利要求1所述的一种半导体用具有气场均匀的高温气相沉积炉,其特征在于:所述沉积炉盖(8)安装在气相沉积炉壳(1)的顶部,通过搭扣(6)和固定凹块(12)装置固定,且沉积炉盖(8)底部安装的卡接环(13) 与气相沉积炉内胆(4)顶部设有的炉盖卡接槽(5)相吻合。
5.根据权利要求1所述的一种半导体用具有气场均匀的高温气相沉积炉,其特征在于:所述连接管(9)一端安装在沉积炉盖(8)顶部,另一端安装在真空泵(10)的一侧,且连接管(9)穿过沉积炉盖(8),与沉积炉盖(8)底部的抽风管(14)相通。
6.根据权利要求1所述的一种半导体用具有气场均匀的高温气相沉积炉,其特征在于:所述抽气蓬头(15)安装在沉积炉盖(8)的底部,且与抽风管(14)相通,抽气蓬头(15)底部开设有分布均匀的抽气孔(16)。
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C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的