[实用新型]一种利用光谱技术的在线式膜厚检测设备

说明书

本实用新型公开了一种利用光谱技术的在线式膜厚检测设备，包括壳体，所述壳体的前表壁设置有电源开关和显示屏，所述显示屏位于电源开关的一侧，所述壳体的内部设置有光谱器，所述显示屏和光谱器均与电源开关电性连接，所述壳体的上方贯穿有导风筒，所述导风筒的内部设置有固定杆，所述固定杆的一侧设置有连接杆，所述连接杆的一侧通过转轴转动连接有叶轮，所述导风筒的下方设置有扩风筒，本实用新型设置了卡块和隔板，卡块设置在壳体内部的两侧，且两个卡块之间滑动连接有隔板，便于使用人员将测量的膜防止在隔板上，防止壳体底部灰尘过多，影响膜的测量厚度，解决了膜厚检测设备内部底端容易积攒灰尘的问题。

技术领域

本实用新型属于膜厚测试仪技术领域，具体涉及一种利用光谱技术的在线式膜厚检测设备。

背景技术

膜厚测试仪，分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪，手持式的磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度，也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度，台式的荧光X射线膜厚测试仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时，产生低能量的光子，俗称为二次荧光，在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。

但是目前市场上的膜厚检测设备，在使用时存在一些缺陷，膜厚检测设备长时间工作，光能会造成膜厚检测设备内部过热，影响使用寿命，且膜厚检测设备内部底端容易积攒灰尘，影响测量时膜厚的精准度。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种利用光谱技术的在线式膜厚检测设备，以解决上述背景技术中提出的膜厚检测设备长时间工作，光能会造成膜厚检测设备内部过热，且膜厚检测设备内部底端容易积攒灰尘的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种利用光谱技术的在线式膜厚检测设备，包括壳体，所述壳体的前表壁设置有电源开关和显示屏，所述显示屏位于电源开关的一侧，所述壳体的内部设置有光谱器，所述显示屏和光谱器均与电源开关电性连接，所述壳体的上方贯穿有导风筒，所述导风筒的内部设置有固定杆，所述固定杆的一侧设置有连接杆，所述连接杆的一侧通过转轴转动连接有叶轮，所述导风筒的下方设置有扩风筒，所述壳体的内部设置有两个卡块，两个所述卡块之间滑动连接有隔板。

优选的，所述扩风筒的内部设置有过滤网，所述过滤网与扩风筒通过螺纹旋合连接。

优选的，所述卡块的两端均设置有固定板，两个所述固定板均与壳体的内表壁通过固定销固定连接。

优选的，所述卡块的内部设置有垫片，所述垫片的两端均设置有锯齿。

优选的，所述导风筒的内部两端均设置有固定块，两个所述固定块的一侧均开设有卡槽，两个卡槽的内部卡合连接有固定杆。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

(1)本实用新型设置了导风筒、叶轮、连接杆、固定杆和扩风筒，导风筒便于将外界的风导进壳体内，导风筒的内部设置有固定杆，固定杆的一侧设置有连接杆，连接杆的一侧通过转轴转动连接有叶轮，当风进入导风筒时，风带动叶轮进行旋转，加大进入壳体内部的风力，风再由扩风筒大面积扩散到壳体内部，使壳体内部得到更快速的散热，解决了膜厚检测设备长时间工作，光能会造成膜厚检测设备内部过热，影响使用寿命的问题。

(2)本实用新型设置了卡块和隔板，卡块设置在壳体内部的两侧，且两个卡块之间滑动连接有隔板，便于使用人员将测量的膜放置在隔板上，防止壳体底部灰尘过多，影响膜的测量厚度，解决了膜厚检测设备内部底端容易积攒灰尘，影响测量时膜厚精准度的问题。

附图说明

图1为本实用新型的内部结构示意图；

图2为本实用新型的外观图；

图3为本实用新型的俯视图；