[实用新型]一种用于IC邦定偏位检测的检测装置

说明书

本实用新型公开一种用于IC邦定偏位检测的检测装置，包括底座、X轴运动机构、Y轴运动机构、Z轴调节机构、检测平台和检测机构；X轴运动机构设置在所述底座上，用于牵引Y轴运动机构沿X轴运动机构的运行方向运动；Y轴运动机构设置在X轴运动机构上，用于牵引检测平台沿Y轴运动机构的运行方向运动；检测平台设置在Y轴运动机构上，用于安放产品；Z轴调节机构于检测平台后方设置在底座上，用于牵引检测机构上升或下降；检测机构设置在Z轴调节机构上，用于采集产品的图像信息以实现对产品的芯片邦定偏位检测。本实用新型实现自动化全检，有效解决了漏检问题，提高了检测准确度和检测效率，有效降低了产品的生产成本。

技术领域

本实用新型涉及检测设备技术领域，尤其涉及一种用于IC邦定偏位检测的检测装置。

背景技术

目前，LCD产品在生产过程中都需要进行IC邦定偏位检测以筛选出不良品，现有的检测方式是通过人工在同轴光显微镜下进行抽样检测，但这种检测方式存在以下缺陷：

1）效率低下：人工检测效率低下，不能匹配LCD产品的生产节拍，常常只是抽测，部分产品未经检测就直接流出到下一工序，不良品容易出现漏检，而且人眼长时间作业容易视觉疲劳，也会导致漏检。

2）功能不全：现有人工作业都是用同轴光来检测，LCD玻璃上的ITO线路和FPC的线路在同轴光环境下与背景的色差都很大，人工可以进行检查。不过，芯片与玻璃的接触面在同轴光下整体都是金色，管脚和背景几乎没有区别，难以观测到IC管脚的精确位置；因此人工作业时仅能根据芯片的轮廓来发现大幅的偏位，而无法有效检查芯片管脚与ITO线路之间的微米级偏位。

3）成本高：检测效率低下造成人工成本较高，人工检测未及时发现不良品会出现在线返工成本，以及不良品流出还会出现客诉处理成本和信誉损失成本，导致LCD产品的生产成本较高。

因此，现有技术存在缺陷，需要改进。

实用新型内容

本实用新型的目的是克服现有技术的不足，提供一种用于IC邦定偏位检测的检测装置。

本实用新型的技术方案如下：

一种用于IC邦定偏位检测的检测装置，包括：底座、X轴运动机构、Y轴运动机构、Z轴调节机构、检测平台和检测机构；所述X轴运动机构设置在所述底座，用于牵引所述Y轴运动机构沿所述X轴运动机构的运行方向运动；所述Y轴运动机构设置在所述X轴运动机构上，用于牵引所述检测平台沿所述Y轴运动机构的运行方向运动；所述检测平台设置在所述Y轴运动机构上，用于安放产品；所述Z轴调节机构于所述检测平台后方设置在所述底座上，用于牵引所述检测机构上升或下降；所述检测机构设置在所述Z轴调节机构上，用于采集所述产品的图像信息以实现对所述产品的芯片邦定偏位检测。

优选地，所述检测机构包括检测装置和多种光源，其中，该多种光源包括同轴光源和环形光源；所述环形光源于所述检测平台上方设置在所述Z轴调节机构的输出端上；所述检测装置于所述环形光源上方设置在所述Z轴调节机构的输出端上；所述同轴光源于所述环形光源上方设置在所述检测装置上，且所述同轴光源的出光方向与所述检测装置的采集方向同轴；检测时检测装置通过所述环形光源实现精确查找芯片管脚的位置以解决同轴光无法有效检测芯片管脚的缺陷，并通过所述同轴光源实现精确查找产品的线路。

优选地，所述检测装置包括面阵相机和线阵相机之中的任意一种。

优选地，所述X轴运动机构包括一第一kk模组，所述第一kk模组沿所述底座的长度方向设置在所述底座的左侧边缘上，且所述第一kk模组的滑座上设有所述Y轴运动机构；使用时所述Y轴运动机构通过所述第一kk模组的动作实现沿所述第一kk模组的运行方向作水平直线运动。

优选地，所述Y轴运动机构包括一第二kk模组，所述第二kk模组设置在所述第一kk模组的滑座上，且所述第二kk模组的滑座上设有所述检测平台；使用时所述检测平台通过所述第二kk模组的动作实现沿所述第二kk模组的运行方向作水平直线运动。