[实用新型]一种用于测试电子元件的高温高湿测试装置

权利要求书

1.一种用于测试电子元件的高温高湿测试装置，其特征在于：该一种用于测试电子元件的高温高湿测试装置包括测试机主体(1)；所述测试机主体(1)的顶部内侧固定连接有一组工件输送驱动件(2)；所述测试机主体(1)的中部转动连接有一组转位旋转轴(3)；所述测试机主体(1)的内部圆周阵列排布滑动连接有四对封闭分隔门(4)。

2.如权利要求1所述一种用于测试电子元件的高温高湿测试装置，其特征在于：所述工件输送驱动件(2)还包括有驱动蜗杆(201)，工件输送驱动件(2)的转轴上同轴固定连接有一组驱动蜗杆(201)，转位旋转轴(3)还包括有从动蜗轮(301)，转位旋转轴(3)的顶部同轴固定连接有一组从动蜗轮(301)，驱动蜗杆(201)与从动蜗轮(301)啮合共同构成蜗轮蜗杆传动机构。

3.如权利要求1所述一种用于测试电子元件的高温高湿测试装置，其特征在于：所述转位旋转轴(3)还包括有电子元器件承载安装件(303)，转位旋转轴(3)的中部圆周阵列排布固定连接有四组电子元器件承载安装件(303)。

4.如权利要求1所述一种用于测试电子元件的高温高湿测试装置，其特征在于：所述封闭分隔门(4)还包括有滑动导向块(401)，封闭分隔门(4)的内侧固定连接有一组滑动导向块(401)，封闭分隔门(4)通过滑动导向块(401)与测试机主体(1)滑动连接，测试机主体(1)还包括有操作腔(101)、试验腔(102)、缓冲腔(103)，四对封闭分隔门(4)将测试机主体(1)内腔分隔为一组操作腔(101)、一组试验腔(102)和两组缓冲腔(103)。

5.如权利要求1所述一种用于测试电子元件的高温高湿测试装置，其特征在于：所述封闭分隔门(4)还包括有启闭从动块(402)，封闭分隔门(4)的内侧中部固定连接有一组启闭从动块(402)，转位旋转轴(3)还包括有开关门驱动槽(302)，转位旋转轴(3)的上下分别对称开设有一组波浪状结构的开关门驱动槽(302)，启闭从动块(402)在开关门驱动槽(302)内滑动，启闭从动块(402)与开关门驱动槽(302)共同构成圆柱面凸轮机构。