[实用新型]一种LED芯片的测试装置有效
| 申请号： | 202023199154.8 | 申请日： | 2020-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN213688883U | 公开（公告）日： | 2021-07-13 |
| 发明（设计）人： | 李龙;张帅 | 申请（专利权）人： | 厦门士兰明镓化合物半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01R31/44 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 张柳 |
| 地址： | 361012 福*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 led 芯片 测试 装置 | ||
1.一种LED芯片的测试装置，其特征在于，包括积分球和用于固定LED芯片的测试载台，所述积分球的下方设有围绕所述LED芯片并接收所述LED芯片发出的光的收光口。
2.根据权利要求1所述的LED芯片的测试装置，其特征在于，还包括探针，所述收光口的侧壁开设有供所述探针穿过的探针槽口。
3.根据权利要求2所述的LED芯片的测试装置，其特征在于，所述探针槽口的下端开口于所述收光口的下端面。
4.根据权利要求2所述的LED芯片的测试装置，其特征在于，所述探针槽口为直缝开口，所述探针槽口的延伸方向与所述收光口的高度方向平行或存在锐角夹角。
5.根据权利要求2所述的LED芯片的测试装置，其特征在于，所述探针槽口的长度大于所述探针与所述LED芯片的下端面之间的垂直距离。
6.根据权利要求2或5所述的LED芯片的测试装置，其特征在于，所述探针槽口的长度小于等于所述收光口的高度。
7.根据权利要求1所述的LED芯片的测试装置，其特征在于，所述收光口的高度为18～22mm。
8.根据权利要求2所述的LED芯片的测试装置，其特征在于，所述探针槽口的长度为14～16mm。
9.根据权利要求2所述的LED芯片的测试装置，其特征在于，所述探针槽口的宽度大于等于所述探针的外径。
10.根据权利要求9所述的LED芯片的测试装置，其特征在于，所述探针槽口的宽度为所述探针的外径的1.6～2倍。
11.根据权利要求9所述的LED芯片的测试装置，其特征在于，所述探针槽口的宽度为0.8～1mm。
12.根据权利要求1所述的LED芯片的测试装置，其特征在于，所述测试载台设有与所述LED芯片的底部配合固定的固定凹槽。
13.根据权利要求1所述的LED芯片的测试装置，其特征在于，还包括用于移动所述测试载台的载台移动装置。
14.根据权利要求13所述的LED芯片的测试装置，其特征在于，所述载台移动装置包括升降所述测试载台的升降装置和水平移动所述测试载台的水平移动装置。
15.根据权利要求1所述的LED芯片的测试装置，其特征在于，还包括连接于所述积分球的探测器和通过光纤连接于所述积分球的光谱仪。
16.根据权利要求1所述的LED芯片的测试装置，其特征在于，还包括探针座和设置于所述探针座上的寻边器，所述寻边器上安装有探针。
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