[实用新型]一种LED芯片的测试装置

说明书

本实用新型公开了一种LED芯片的测试装置，包括积分球和用于固定LED芯片的测试载台，所述积分球的下方设有围绕LED芯片并接收LED芯片发出的光的收光口。本实用新型提供的LED芯片的测试装置在测试过程中，能够利用积分球下方的收光口围绕LED芯片，使得LED芯片顶面和各个侧面发出的光均能够被收光口采集到，因此，本方案能够提高积分球的收光率，减小测试偏差，提高测试准确性。

技术领域

本实用新型涉及LED芯片测试技术领域，尤其涉及一种LED芯片的测试装置。

背景技术

目前，LED芯片的光学测试装置一般包括测试载台、探针座、探针、寻边器、积分球、探测器、光谱仪等，其中，测试载台用于放置待测的LED芯片；寻边器用于搭载探针并配合探针座调整探针位置和扎针深度；积分球是一个内壁涂有白色漫反射材料的空腔球体，又称光度球、光通球等，积分球的下部为设有开口的收光口结构，通常设计为筒状结构，用于对LED芯片发出的光进行收集；探测器用于测试LED芯片的亮度参数；光谱仪用于将光信号转换成电信号，并对不同波段的光进行分析。

现有的LED芯片测试方法为：将探针和LED芯片布置在积分球收光口下方，测试过程中LED芯片发光时，照射到积分球收光口内的光信号会被积分球收集，通过计算得出LED芯片的光参数。其具体测试过程为：将LED芯片置于测试载台上，操作测试载台使LED芯片移动至待测位置，通过寻边器和探针座调整探针位置及针压，然后进行测试。

现有的测试装置中，积分球的收光率较低，LED芯片侧面发出的光无法被积分球采集，因此，使得积分球采集到的光信号与LED芯片实际发出的光信号存在较大差异，进而导致测试结果与LED芯片的实际光参数存在较大偏差。

因此，如何提高LED芯片的测试准确性，是本领域技术人员目前需要解决的技术问题。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的目的是提供一种LED芯片的测试装置，用于提高积分球的收光率，减小测试偏差，提高测试准确性。

为了达到上述目的，本实用新型提供了如下技术方案：

一种LED芯片的测试装置，包括积分球和用于固定LED芯片的测试载台，所述积分球的下方设有围绕所述LED芯片并接收所述LED芯片发出的光的收光口。

优选地，上述LED芯片的测试装置还包括探针，所述收光口的侧壁开设有供所述探针穿过的探针槽口。

优选地，所述探针槽口的下端开口于所述收光口的下端面。

优选地，所述探针槽口为直缝开口，所述探针槽口的延伸方向与所述收光口的高度方向平行或存在锐角夹角。

优选地，所述探针槽口的长度大于所述探针与所述LED芯片的下端面之间的垂直距离。

优选地，所述探针槽口的长度小于等于所述收光口的高度。

优选地，所述收光口的高度为18～22mm。

优选地，所述探针槽口的长度为14～16mm。

优选地，所述探针槽口的宽度大于等于所述探针的外径。

优选地，所述探针槽口的宽度为所述探针的外径的1.6～2倍。

优选地，所述探针槽口的宽度为0.8～1mm。

优选地，所述测试载台设有与所述LED芯片的底部配合固定的固定凹槽。

优选地，上述LED芯片的测试装置还包括用于移动所述测试载台的载台移动装置。

优选地，所述载台移动装置包括升降所述测试载台的升降装置和水平移动所述测试载台的水平移动装置。