[实用新型]一种DRAM芯片检测用基座有效
| 申请号： | 202023214155.5 | 申请日： | 2020-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN213844766U | 公开（公告）日： | 2021-07-30 |
| 发明（设计）人： | 张仪 | 申请（专利权）人： | 深圳市八全通科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 深圳驿航知识产权代理事务所(普通合伙) 44605 | 代理人： | 孙小丁 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市西乡街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 dram 芯片 检测 基座 | ||
1.一种DRAM芯片检测用基座，其特征在于：包括支撑底座(1)，所述支撑底座(1)的上表面活动安装有活动转板(2)，所述活动转板(2)的上表面圆心处固定安装有调位旋钮(4)，所述支撑底座(1)的表面活动安装有组合装置(3)，所述组合装置(3)包括安装支板(301)、组合滑槽(302)、第二吸附磁块(303)和导向滑块(304)，所述组合装置(3)的表面活动安装有第一装夹座(5)，所述组合装置(3)的表面位于第一装夹座(5)的一侧活动安装有第二装夹座(6)。
2.根据权利要求1所述的一种DRAM芯片检测用基座，其特征在于：所述支撑底座(1)的上表面开设有环形滑槽(101)，所述支撑底座(1)的内部开设有凹槽，所述支撑底座(1)的凹槽内部嵌设有轴承(102)，所述轴承(102)的轴心处固定安装有转轴(103)。
3.根据权利要求2所述的一种DRAM芯片检测用基座，其特征在于：所述第一装夹座(5)的上表面开设有第一装夹槽(501)，所述第二装夹座(6)的上表面开设有第二装夹槽(601)，所述第一装夹座(5)和所述第二装夹座(6)的上表面均开设有取出豁口(602)，所述第一装夹座(5)和所述第二装夹座(6)的下表面均开设有组合滑条(603)，所述组合滑条(603)的一端固定安装有第一吸附磁块(604)。
4.根据权利要求3所述的一种DRAM芯片检测用基座，其特征在于：所述安装支板(301)的上表面开设有组合滑槽(302)，所述组合滑槽(302)的内壁固定安装有第二吸附磁块(303)，所述安装支板(301)的下表面固定安装有导向滑块(304)。
5.根据权利要求4所述的一种DRAM芯片检测用基座，其特征在于：所述转轴(103)的上端与活动转板(2)的下表面圆心处固定连接，所述安装支板(301)与活动转板(2)的侧面固定连接，所述活动转板(2)通过转轴(103)和轴承(102)在支撑底座(1)的上方转动。
6.根据权利要求5所述的一种DRAM芯片检测用基座，其特征在于：所述第一装夹座(5)和所述第二装夹座(6)均通过组合滑条(603)滑入组合滑槽(302)的内部，且通过第一吸附磁块(604)与第二吸附磁块(303)相吸附后限位固定，所述安装支板(301)通过导向滑块(304)与环形滑槽(101)滑动连接。
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