[实用新型]一种DRAM芯片检测用基座

说明书

本实用新型公开了一种DRAM芯片检测用基座，包括支撑底座，所述支撑底座的上表面活动安装有活动转板，所述活动转板的上表面圆心处固定安装有调位旋钮，所述组合装置包括安装支板、组合滑槽、第二吸附磁块和导向滑块，所述组合装置的表面活动安装有第一装夹座，所述组合装置的表面位于第一装夹座的一侧活动安装有第二装夹座。本实用新型所述的一种DRAM芯片检测用基座，属于基座领域，活动转板通过转轴和轴承在支撑底座上方转动，从而待检测芯片逐个移到前部区域进行检测，一次装夹多个芯片，有利于提高检测效率，可以根据芯片尺寸对第一装夹座及第二装夹座进行更换，适应对不同尺寸芯片进行装夹并检测。

技术领域

本实用新型涉及基座领域，特别涉及一种DRAM芯片检测用基座。

背景技术

DRAM芯片又称动态随机存取存储器，DRAM只能将数据保持很短的时间，所以需要定时刷新，DRAM分为很多种，常见的主要有FPRAM、EDORAM、SDRAM、DDRRAM、RDRAM、SGRAM以及WRAM等，DRAM芯片在检测时使用到基座放置芯片；然而，现有的基座对不同尺寸的芯片装夹适应性差，并且一般一次装夹一个芯片，在检测后取下并更换芯片，使得检测效率不佳。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种DRAM芯片检测用基座，可以有效解决背景技术中基座对不同尺寸的芯片装夹适应性差，并且一般一次装夹一个芯片，在检测后取下并更换芯片，使得检测效率不佳的问题。

为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：

一种DRAM芯片检测用基座，包括支撑底座，所述支撑底座的上表面活动安装有活动转板，所述活动转板的上表面圆心处固定安装有调位旋钮，所述支撑底座的表面活动安装有组合装置，所述组合装置包括安装支板、组合滑槽、第二吸附磁块和导向滑块，所述组合装置的表面活动安装有第一装夹座，所述组合装置的表面位于第一装夹座的一侧活动安装有第二装夹座。

优选的，所述支撑底座的上表面开设有环形滑槽，所述支撑底座的内部开设有凹槽，所述支撑底座的凹槽内部嵌设有轴承，所述轴承的轴心处固定安装有转轴。

优选的，所述第一装夹座的上表面开设有第一装夹槽，所述第二装夹座的上表面开设有第二装夹槽，所述第一装夹座和所述第二装夹座的上表面均开设有取出豁口，所述第一装夹座和所述第二装夹座的下表面均开设有组合滑条，所述组合滑条的一端固定安装有第一吸附磁块。

优选的，所述安装支板的上表面开设有组合滑槽，所述组合滑槽的内壁固定安装有第二吸附磁块，所述安装支板的下表面固定安装有导向滑块。

优选的，所述转轴的上端与活动转板的下表面圆心处固定连接，所述安装支板与活动转板的侧面固定连接，所述活动转板通过转轴和轴承在支撑底座的上方转动。

优选的，所述第一装夹座和所述第二装夹座均通过组合滑条滑入组合滑槽的内部，且通过第一吸附磁块与第二吸附磁块相吸附后限位固定，所述安装支板通过导向滑块与环形滑槽滑动连接。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：

本实用新型中，通过设置的活动转板、第一装夹座和第二装夹座，活动转板通过转轴和轴承在支撑底座上方转动，从而待检测芯片逐个移到前部区域进行检测，一次装夹多个芯片，有利于提高检测效率，通过设置的组合装置，可以根据芯片尺寸对第一装夹座及第二装夹座进行更换，适应对不同尺寸芯片进行装夹并检测。

附图说明

图1为本实用新型一种DRAM芯片检测用基座的整体结构示意图；

图2为本实用新型一种DRAM芯片检测用基座的组合装置结构示意图；

图3为本实用新型一种DRAM芯片检测用基座的第一装夹座结构示意图；

图4为本实用新型一种DRAM芯片检测用基座的支撑底座剖面图。