[实用新型]一种用于双面数字化曝光的基材平整装置有效
申请号: | 202023247253.9 | 申请日: | 2020-12-29 |
公开(公告)号: | CN214046180U | 公开(公告)日: | 2021-08-24 |
发明(设计)人: | 周朝阳 | 申请(专利权)人: | 中山新诺科技股份有限公司 |
主分类号: | H05K3/00 | 分类号: | H05K3/00 |
代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 伍传松 |
地址: | 528400 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 双面 数字化 曝光 基材 平整 装置 | ||
1.一种用于双面数字化曝光的基材平整装置,其特征在于,包括:
固定机构(200),用于对基材(100)进行初步定位;
悬浮辅助支撑机构(300),包括涡流组件(310)、磁性组件(320),所述涡流组件(310)与所述磁性组件(320)相互作用而施加垂直于所述基材(100)表面的支撑力。
2.根据权利要求1所述的用于双面数字化曝光的基材平整装置,其特征在于,所述固定机构(200)包括拉紧机构和/或支撑机构。
3.根据权利要求1所述的用于双面数字化曝光的基材平整装置,其特征在于,还包括检测反馈机构,用于检测所述基材(100)表面的平整度以及根据所述平整度调整所述支撑力的大小。
4.根据权利要求3所述的用于双面数字化曝光的基材平整装置,其特征在于,所述涡流组件(310)包括设置在所述基材(100)上且位于曝光区域外围的涡流线圈(311)、与所述涡流线圈(311)连接的输入触点(312),所述涡流线圈(311)沿所述基材(100)中心对称分布,所述输入触点(312)与所述检测反馈机构电性连接,所述磁性组件(320)设置在所述基材(100)中心的正上方和/或正下方。
5.根据权利要求4所述的用于双面数字化曝光的基材平整装置,其特征在于,所述涡流线圈(311)通过空间投影成像无掩模光刻技术制造成形。
6.根据权利要求4所述的用于双面数字化曝光的基材平整装置,其特征在于,所述涡流线圈(311)通过FPC制备工艺制造成形。
7.根据权利要求4所述的用于双面数字化曝光的基材平整装置,其特征在于,所述涡流线圈(311)通过热压印技术组装而成。
8.根据权利要求3所述的用于双面数字化曝光的基材平整装置,其特征在于,所述磁性组件(320)包括设置在所述基材(100)上且位于曝光区域外围的永磁体和/或电磁体,所述永磁体和/或电磁体产生的磁场沿所述基材(100)中心对称分布,所述涡流组件(310)设置在所述基材(100)中心的正上方和/或正下方,所述涡流组件(310)与所述检测反馈机构电性连接。
9.根据权利要求3所述的用于双面数字化曝光的基材平整装置,其特征在于,所述磁性组件(320)包括设置在所述基材(100)中心的至少一组永磁体,所述永磁体产生的磁场沿所述基材(100)中心对称分布,所述涡流组件(310)设置在所述基材(100)中心的正上方和/或正下方,所述涡流组件(310)与所述检测反馈机构连接,所述永磁体为透明结构。
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