[实用新型]一种GPIO的AC特性测试系统

权利要求书

1.一种GPIO的AC特性测试系统，其特征在于，包括：

存储器，所述存储器用于存储指令及测试条件；

控制器，根据所述指令及所述测试条件对待测MCU执行测试；

负载电容选择模块，所述负载电容选择模块连接所述控制器，且用于提供不同大小的负载电容；以及

电源模块，所述电源模块连接所述控制器，且用于提供不同大小的供电电压；

其中，所述待测MCU具有多个引脚速度不同的输出驱动电路，

其中，根据不同测试条件，所述控制器控制所述负载电容选择模块提供相应的负载电容、控制所述电源模块提供相应的电压、及控制所述待测MCU设置为相应的引脚速度，所述待测MCU的GPIO输出不同的波形讯号，存储所述不同波形讯号的相应波形参数于存储器。

2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述波形参数包括上升时间Tr、下降时间Tf、频率1/T、以及占空比，当Tr+Tf2/3T且占空比在45％～55％之间，所述频率则为在相应的测试条件下的所述待测MCU的GPIO最大输出频率。

3.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，还包括波形分析仪，连接所述待测MCU的GPIO，获取所述波形讯号。

4.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述指令为对所述待测MCU连续测试多组测试条件，所述控制器对所述待测MCU执行连续自动测试。

5.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，驱动配置包括负载电容、电压、及引脚速度。

6.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述负载电容选择模块包括多个不同负载电容值的电容，每个电容通过开关连接到所述待测MCU的GPIO，所述开关由所述控制器控制。

7.根据权利要求3所述的测试系统，其特征在于，还包括上位机，所述上位机发送所述指令至所述控制器并存储于所述存储器，所述上位机通过USB总线连接所述波形分析仪，所述波形分析仪将所述波形参数传送且存储至所述上位机，所述上位机根据所述波形参数的上升时间Tr、下降时间Tf、频率1/T、以及占空比，判断所述频率是否为在所述测试条件下的所述待测MCU的GPIO最大输出频率。

8.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，还包括第二存储器，用于存储所述波形参数。

9.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述控制器通过PMBus连接所述电源模块，所述控制器通过I2C总线连接所述待测MCU。