[实用新型]一种GPIO的AC特性测试系统

说明书

本申请提供了一种GPIO的AC特性测试系统，涉及MCU领域。所述系统包括：存储器、控制器、负载电容选择模块、电源模块，控制器根据不同的测试条件，改变负载电容、电压、及引脚速度，借由GPIO输出的波形讯号，提取波的参数，判断在所述测试条件下GPIO输出的波形讯号的频率是否是GPIO最大输出频率，满足设计的驱动能力，而针对不同的应用有不同的模式。本发明另包括上位机与存储器、控制器电性连接，达到执行自动测试不同的测试条件。本发明极大的提高了工作人员的工作效率，整个测试结果的准确性也得到了保证。

技术领域

本发明涉及MCU测试领域，尤其涉及一种GPIO的AC特性测试系统以获取GPIO最大输出频率。

背景技术

目前越来越多的嵌入式产品在使用微控制器MCU作为主控单元，单片机无法仅靠MCU(或CPU)及内存运行,必须有外设功能的配置才能对电子产品进行控制，MCU(或CPU)根据指令执行运算、数据的读写以及进行条件判断等，而内存则用来保存该指令或读取的数据。为了与外部的传感器及开关等进行信号交换，就需要“输入/输出端口(I/O端口)”这种外设功能。在“输入/输出端口(I/O端口)”中，数字信号的输入/输出端口即“GPIO (GeneralPurpose Input/Output)”也被称为“通用I/O端口”，是一种用于数字信号输入/输出的非常方便的端口。用于将数字输出的传感器值和开关的ON/OFF值传送到单片机的输入端及通过LED来显示单片机的运算结果，以及输出用于驱动电机运行的信号等等。

目前对GPIO的测试，主要是通过工作人员手动操作测量完成，工作人员需要手动配置各项测试参数，再利用示波器一一测试记录输出方波的各项数据。整个过程不但繁琐，且由于是人工进行操作，测试记录过程中难免会有遗漏和错误，造成测试结果的偏差，同时工作人员的工作效率也较低。

发明内容

本申请提供的一种GPIO的AC特性测试系统，解决了上述问题。

为了解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种GPIOAC特性，包括：

存储器，所述存储器用于存储指令及测试条件；

控制器，根据所述指令及所述测试条件对待测MCU执行测试；

负载电容选择模块，所述负载电容选择模块连接所述控制器，且用于提供不同大小的负载电容；以及

电源模块，所述电源模块连接所述控制器，且用于提供不同大小的供电电压；

其中，所述待测MCU具有多个引脚速度不同的输出驱动电路，

其中，根据不同测试条件，所述控制器控制所述负载电容选择模块提供相应的负载电容、控制所述电源模块提供相应的电压、及控制所述待测MCU 设置为相应的引脚速度，所述待测MCU的GPIO输出不同的波形讯号，存储所述不同波形讯号的相应波形参数于存储器。

进一步地，所述波形参数包括上升时间(Tr)、下降时间(Tf)、频率(1/T)、以及占空比，当Tr+Tf2/3T且占空比在45％～55％之间，所述频率则为在相应的测试条件下的所述待测MCU的GPIO最大输出频率。

更进一步，所述测试系统，还包括波形分析仪，连接所述待测MCU的 GPIO，获取所述波形讯号。

更进一步，所述指令为对所述待测MCU连续测试多组测试条件，所述控制器对所述待测MCU执行连续自动测试。

另一方面，所述测试系统，还包括上位机，所述上位机发送所述指令至所述控制器并存储于所述存储器，所述上位机通过USB总线连接所述波形分析仪，所述波形分析仪将所述波形参数传送且存储至所述上位机，所述上位机根据所述波形参数的上升时间(Tr)、下降时间(Tf)、频率(1/T)、以及占空比，判断所述频率是否为在所述测试条件下的所述待测MCU的GPIO最大输出频率。

附图说明